高分辨率X射線三維顯微成像系統(tǒng)（3D XRM）
Bruker全自動(dòng)高速X射線三維顯微成像系統(tǒng)（3D XRM）
Bruker多量程X射線三維納米顯微成像系統(tǒng)（3D XRM）
Bruker 高通/能量三維X射線顯微成像系統(tǒng)（3D XRM）
通孔孔徑分析儀POROLUX Revo X
X射線顯微CT：
先進(jìn)的無損三維顯微鏡
顯微CT即Micro-CT，為三維X射線成像，與醫(yī)用CT（或“CAT”）原理相同，可進(jìn)行小尺寸、高精度掃描。
通過對(duì)樣品內(nèi)部非常細(xì)微的結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損成像，真正實(shí)現(xiàn)三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。
單次掃描將能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品對(duì)象的完整內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)的完整成像，并且可以完好取回樣本品！
特點(diǎn)：
先進(jìn)的掃描引擎—可變掃描幾何：可以提高成像質(zhì)量，或?qū)呙钑r(shí)間縮短1/2到1/5
支持重建、分析和逼真成像的軟件套件
自動(dòng)樣品切換器
技術(shù)規(guī)范：
X射線源：20-100kV，10W，焦點(diǎn)尺寸＜5μm@4W
X射線探測(cè)器：1600萬像素（4904×3280像素）或1100萬像素（4032×2688像素）
14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體
標(biāo)稱分辨率（最大放大率下樣品的像素）：1600萬像素探測(cè)器＜0.35um；1100萬像素探測(cè)器＜0.45um，
重建容積圖（單次掃描）：1600萬像素探測(cè)器，最大14456×14456×2630像素
1100萬像素探測(cè)器，最大11840×11840×2150像素
掃描空間：最大值：直徑75mm，長(zhǎng)70mm
輻射安全：在儀器表面的任何一點(diǎn)上＜1 uSv/h
外形尺寸：1160（寬）×520（深）×330（高）毫米（帶樣品切換器高440毫米）
重量：150千克，不含包裝
電源：100-240V / 50-60Hz，典型值：在最大X射線功率下為90W
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3374次高分辨率CT
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2605次高分辨率CT
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2222次高分辨率CT
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3710次高分辨率CT
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1223次高分辨率X射線成像系統(tǒng)
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢5042次工業(yè)CT
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1523次高分辨率X射線成像系統(tǒng)
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢108次成像系統(tǒng)
SMILLA（Smart Modular Imaging Laboratory Liquid Analyzer）是一款采用高分辨率流式成像顯微鏡（HiRes-FIM）技術(shù)的前沿模塊化解決方案，用于分析可見及亞可見顆粒。其靈活的設(shè)計(jì)可輕松適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室的特定需求，提供高效、精zhun且可重復(fù)的分析結(jié)果。
Theta Flow Wafer晶圓接觸角測(cè)量?jī)x是一款高端的晶圓全自動(dòng)接觸角測(cè)量?jī)x器。該儀器包括Theta Flow Wafer光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x主機(jī)，可配置四個(gè)具有軟件控制、可水平移動(dòng)、可拋棄滴液頭的自動(dòng)滴液器，以及帶自動(dòng)旋轉(zhuǎn)的全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)。
數(shù)字相關(guān)器適用于PCS技術(shù)，如動(dòng)態(tài)光散射、熒光相關(guān)光譜、擴(kuò)散波光譜、擴(kuò)散光學(xué)層析成像。
NanoLab 3D是一款緊湊型動(dòng)態(tài)光散射（DLS）粒度測(cè)量?jī)x器，基于開創(chuàng)性的專利調(diào)制三維互相關(guān)技術(shù)（Modulated 3D Cross-Correlation）。它有效地抑制了多重光散射，因此大多數(shù)樣品不再需要樣品稀釋。
可變角度光散射儀（廣角動(dòng)/靜態(tài)光散射儀）用于顆粒表征。LS Spectrometer是一種可變多角度光散射儀器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，檢測(cè)器安裝在可移動(dòng)的臂上，可以對(duì)幾乎任何角度進(jìn)行精確調(diào)整，從而提高測(cè)量靈敏度。LS Spectrometer結(jié)合專利的調(diào)制三維技術(shù)（Modulated 3D）（無稀釋測(cè)量）和CORENN（改進(jìn)的聚集檢測(cè)），實(shí)現(xiàn)了市場(chǎng)上全面的納米顆粒表征。
POROLUX BP是一款泡點(diǎn)測(cè)試儀，用于測(cè)量過濾和分離應(yīng)用介質(zhì)中的Z大孔徑（通常稱為“泡點(diǎn) (BP)”）。 POROLUX BP可在0 bar (0 psi) 至 5 bar (75 psi) 的壓力范圍內(nèi)快速準(zhǔn)確地提供泡點(diǎn)結(jié)果，并可檢測(cè)約300 μm 至 0.13 μm的孔隙。 由于其簡(jiǎn)化的操作，POROLUX BP 為 BP dPL（起泡點(diǎn)測(cè)量為與用戶定義的壓力增加的線性度的偏差）和 BP x-ml（在用戶定義的流量下測(cè)量的起泡點(diǎn)）提供了高度可重復(fù)的結(jié)果速度）。這使得 POROLUX BP 成為許多生產(chǎn)過濾和分離介質(zhì)的公司進(jìn)行質(zhì)量控制和/或研發(fā)的明確選擇。
POROLIQ 是一種液液通孔分析儀(LLP)，可根據(jù)步進(jìn)/平衡型方法確定孔徑。這意味著只有在滿足用戶定義的壓力和流量穩(wěn)定性算法的情況下才接受數(shù)據(jù)點(diǎn)。 POROLIQ 被廣泛認(rèn)為是市場(chǎng)上先進(jìn)準(zhǔn)確的液液法通孔分析儀之一。 適合檢測(cè)非常小的孔隙，以及表征中空纖維等壓敏膜。
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