GWB-200JA型引伸計標(biāo)定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG 762-2007引伸計檢定規(guī)程要求,專門用于對各類引伸計的標(biāo)定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應(yīng)百分表、千分表的檢定。
結(jié)構(gòu)特點及讀數(shù)方式:
1. 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標(biāo)定儀是積木式結(jié)構(gòu)設(shè)計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,同時配有加長立柱附件,配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣,可以方便地進(jìn)行多種規(guī)格型號引伸計的計量標(biāo)定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要,配置專用配件進(jìn)行精密微變形量計量。
2. 精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內(nèi)筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋副組成。其max量程25㎜;最小分度(游標(biāo)分度)0.0002㎜;旋轉(zhuǎn)外筒分度0.002㎜。
位移變化讀數(shù)為:
L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中: a0 b0 c0為相應(yīng)位移變化前讀數(shù)
a-內(nèi)筒毫米刻線讀數(shù)
b-外筒刻線讀數(shù)
c-游標(biāo)刻線讀數(shù)
使用說明:
請依據(jù)JJG 762-2007引伸計檢定規(guī)程要求,進(jìn)行引伸計的檢定:
1、根據(jù)被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格,選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
2、調(diào)整兩測量支臂的位置,獲得適宜的檢定空間;調(diào)整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調(diào)整測微頭與下底座的距離,以保證測微頭的有效行程。一切調(diào)整好后注意旋緊各個所需固緊部位,在檢定過程中除準(zhǔn)許運動位移的部分外,都不準(zhǔn)許有任何滑動或松動。
3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:
1)檢定范圍應(yīng)根據(jù)引伸計需要測試材料的技術(shù)參數(shù)決定。例如,使用50㎜標(biāo)距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術(shù)數(shù)據(jù),那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
2)對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內(nèi),一般檢定10點,即每0.1㎜檢一點。
3)檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法,不要用游標(biāo)估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù),因為每一次的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞,估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法最清晰簡單準(zhǔn)確,出現(xiàn)誤差的機率最小,即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn),因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差,其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加,這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。
4、加長立柱的使用:在使用基本立柱檢定引伸計時,無法保證該引伸計的標(biāo)距空間時,取掉基本立柱上保護(hù)帽,將加長立柱插入主立柱對準(zhǔn)V型槽,旋緊上螺絲。一定要固緊后,方可使用。
主要配置:
1. 組合校準(zhǔn)桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。
2. 刀片2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上:用于COD或JIC夾規(guī)檢定。
3. 橫試片2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上:用于橫向引伸計的檢定。
4. 板件2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上:用于模擬板材試樣的檢定。
5. φ10×120桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
6. φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內(nèi)用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
7. φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
8. φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
9. 170㎜加長立柱1件。用于延長標(biāo)定儀高度。
10. 聯(lián)接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上,連接分離試樣進(jìn)行檢定。
維護(hù)與保養(yǎng):
1.上、下支臂拆裝時,應(yīng)防止定位釘或鋼球的脫落,抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。1、儀器出廠時精密微分測量頭的精度已調(diào)校好,使用中不得自行拆卸。
2.應(yīng)在清潔無塵環(huán)境使用,并注意隨時保持儀器的清潔無塵。
3.注意防止外力損傷及銹蝕的產(chǎn)生。
4.上、下支臂拆裝時,應(yīng)防止定位釘或鋼球的脫落。
5.定期交有關(guān)計量部門復(fù)檢。
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智舜測控 25mm引伸計標(biāo)定儀是一種純機械式的高精度位移測微儀器。引伸計標(biāo)定器是根據(jù)JJG762-2007引伸計檢定規(guī)程要求研發(fā)、設(shè)計的,專門用于對各類引伸計的標(biāo)定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應(yīng)百分表、千分表的檢定。
1.非接觸式測量 2.全場測量 3.三維測量 4.不受試樣形狀限制:板狀、棒狀、片狀、線狀、薄膜、混凝土、軟質(zhì)材料、生物材料等 5.不受應(yīng)變范圍限制,可測量應(yīng)變范圍:0——1000% 6.不受應(yīng)變方向限制:可同時實現(xiàn)軸向和橫向延伸率測量 7.實時測量,可實現(xiàn)應(yīng)變控制 8.具備螺紋鋼無散斑自動識別功能 9.具備試樣邊緣寬度自動識別功能 10.嵌入式軟件,操作方便 11.滿足現(xiàn)有JJG762-2007 0.5級精度要求
YYU系列軸向變形引伸計,適用于金屬非金屬材料的測試。用于測量彈性模量、規(guī)定非比例延伸強度、規(guī)定總延伸強度、各種延伸率、應(yīng)變硬化指數(shù)等參數(shù)。
?1、應(yīng)變片阻值:350歐姆。 ??2、供橋電壓值:小于6V。 ??3、輸出靈敏度:約2mv/v。 ??4、引伸計標(biāo)距:25/50/100/200毫米。 ??5、較大變形量:5/10/25毫米(標(biāo)距25的較大變形只能到10)
最大量程25mm 微分測量頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度 0.5mm/格 微分測量頭讀數(shù)外筒圓周刻度 0.005mm/格 游標(biāo)刻度(最小分度值)0.0005mm 可進(jìn)行1級引伸計的標(biāo)定
微分測頭讀數(shù)內(nèi)筒游標(biāo)刻度0.0002㎜/格 高精密微分測頭精度指標(biāo)0.5um 標(biāo)定儀示值誤差: 校準(zhǔn)范圍不超過1/3㎜ 受檢點時±0.5μm 絕對誤差 校準(zhǔn)范圍超過1/3㎜ 受檢點時±0.15相對誤差
濟(jì)南普業(yè)機電技術(shù)有限公司GWB-200JA型引伸計標(biāo)定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG762-92引伸計檢定規(guī)程要求,專門用于對各類引伸計的標(biāo)定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應(yīng)百分表、千分表的檢定。
該引伸計可用于測量金屬、塑料、復(fù)合材料和陶瓷等材料的變形。適用于拉伸和壓縮試±±驗。