頂空技術(shù)的分類
頂空技術(shù)依據(jù)其不同的取樣和進樣方式可分為:
靜態(tài)頂空:將樣品放置在一密閉容器中,在一定溫度下放置一段時間使氣液兩相達到平衡,取氣相部分進入GC分析,有稱平衡頂空或者一次氣相萃取
動態(tài)頂空:在樣品中連續(xù)通入惰性氣體,揮發(fā)性組分即隨該萃取氣體中樣品中溢出,然后通過一個吸附裝置(補集器)將樣品濃縮,Z后再將樣品解吸進入氣譜分析這是一種連續(xù)的多次氣相萃取,直到樣品中的揮發(fā)性組分完全萃取出來
方法 優(yōu)點 缺點
靜態(tài)頂空
1樣品基質(zhì)(如水)的干擾極小
2儀器較簡單,不需要吸附裝置
3揮發(fā)性樣品組分不會丟失
1靈敏度稍低
2難以分析較高沸點的樣品
動態(tài)頂空 1可將揮發(fā)性組分全部萃取出來,并在捕集裝置中濃縮后分析
2靈敏度較高
3比靜態(tài)頂空應(yīng)用范圍更廣,使 用于沸點較高的組分 1樣品基質(zhì)可能干擾分析
2儀器較復(fù)雜
3吸附和解吸可能造成樣 品組分的丟失
1.5 靜態(tài)頂空
1.5.1 靜態(tài)頂空的原理: 液氧中烴類雜質(zhì)分析專用氣相色譜儀
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