摘 要：在常規(guī)和高溫高濕環(huán)境下,采用氫化物發(fā)生-原子熒光法測定了人發(fā)中的痕量汞,研究了樣品處理儀器分析和快速消除不良記憶的方法結(jié)果表明,在高溫高濕環(huán)境下選擇稍高的負(fù)高壓并控制標(biāo)準(zhǔn)空白的熒光度,能緩和Hg的不穩(wěn)定性對測量的影響,而標(biāo)準(zhǔn)曲線的線性樣品和標(biāo)樣的測量值與常規(guī)條件無顯著差異還原劑濃度以1.5%~2.5%為好,過高或過低時常有信號溢出或無信號現(xiàn)象,儀器的靈敏度和穩(wěn)定性不易平衡H2SO4殘留導(dǎo)致樣品空白的熒光度高于標(biāo)準(zhǔn)空白,在高溫高濕環(huán)境下尤為明顯,故樣品處理時慎用H2SO4負(fù)高壓校正和優(yōu)化線性校正能快速消除不良記憶對測量的影響該方法快速準(zhǔn)確,精密度1.1%,檢出限為0.006ng•mL-1 AFS-230E 全自動雙道氫化物發(fā)生原子熒光光度計 AFS-3100型全自動雙道原子熒光光度計