為了通過 SP-ICP-MS 獲得可靠的顆粒分析結(jié)果，估算 CeO2 納米顆粒的顆粒計數(shù)濃度檢測限非常重要。因此， 為了確定 CeO2 納米顆粒的方法檢出限（MDL），對由一 系列 0.5 mg/L 的 CeO2 納米顆粒用 0.025 mM 焦磷酸鈉 溶液稀釋得到的標(biāo)準(zhǔn)品中各種顆粒的濃度（范圍在 500 至 256000 NPs/mL）進行了分析。如圖 1 所示，測得的 顆粒濃度表明顆粒濃度范圍在 0.0078 μg/ L 至 1 μg/L 之 間呈線性趨勢。但當(dāng)顆粒濃度進一步降低至小于 0.0078  μg/L 時，數(shù)據(jù)偏離了校準(zhǔn)曲線。這表明目前確立的 SP-ICP-MS 方法能夠精確檢測蕞低 1700 NPs /mL 的 CeO2 納米顆粒，其靈敏度極高。顆粒數(shù)濃度檢測限取決 于分析時間：可以通過更長的信號采集時間和 / 或更高 的輸運效率實現(xiàn)更低的顆粒數(shù)濃度檢測限。