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儀器網(wǎng)/ 應(yīng)用方案/ X射線衍射（XRD）法測定Ni電極材料結(jié)構(gòu)半高寬峰高比及其

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通過衍射峰的半高寬和峰高比可以研究Ni電極材料粉末顆粒的微結(jié)構(gòu)特征，本文描述了應(yīng)用X射線衍射法測定Ni陽電極材料結(jié)構(gòu)計(jì)算其衍射峰的半高寬和峰高比求解峰高比時改進(jìn)測定方法，采用定點(diǎn)測量的方法，減小了在密封式管條件下由于計(jì)數(shù)小而產(chǎn)生很大的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差1/ ，使定量更準(zhǔn)確從而可以更好地了解Ni電極材料的電極性能，便于建立工藝條件 XD-2/XD-3/XD-6自動X射線粉末衍射儀

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