在低溫條件下,利用磁控濺射技術(shù),在聚乳酸非織造布表面沉積不同厚度的納米結(jié)構(gòu)銀薄膜,研究PLA 基納米結(jié)構(gòu)銀薄膜厚度對樣品KJ性能的影響采用振蕩燒瓶法測試樣品的KJ性能,利用原子力顯微鏡(AFM) 分析納米結(jié)構(gòu)銀薄膜表面形態(tài)及粒徑,應(yīng)用EDX分析薄膜表面的元素分布結(jié)果表明:隨著薄膜厚度的增大,樣品KJ性能提高;濺射時間延長,薄膜厚度增大,膜層的致密性改善,單位面積上的銀含量增加,膜層表面積增大,銀離子釋放幾率增大,是提高KJ性能的主要原因;當(dāng)納米結(jié)構(gòu)銀薄膜厚度為1 nm時,對大腸桿菌和金黃色葡萄球菌的YJ率均達到100 % CSPM5500掃描探針顯微鏡
登錄或新用戶注冊
請用手機微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊新賬號
微信掃碼,手機電腦聯(lián)動
推薦方案
參與評論
登錄后參與評論