【概述】

【實(shí)驗(yàn)/設(shè)備條件】

便攜式X射線熒光光譜分析儀

【樣品提取】

【實(shí)驗(yàn)/操作方法】

• 通過對土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進(jìn)行XRF分析，可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的金元素礦化的情況。

• 使用XRF分析儀對樣本進(jìn)行預(yù)先篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經(jīng)費(fèi)，以及更準(zhǔn)確地確定鉆井的區(qū)域。

• 通過XRF技術(shù)繪制結(jié)構(gòu)特性的映射圖，并識別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶更好地了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得更好的金采收量。

• 在巖石地球化學(xué)應(yīng)用中使用XRF技術(shù)，可以迅速、經(jīng)濟(jì)地為巖石進(jìn)行分類。

金礦床的相關(guān)地球化學(xué)特征
資料來源：Reflex Geochemistry

【實(shí)驗(yàn)結(jié)果/結(jié)論】

探途元素和蝕變地球化學(xué)

大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學(xué)特征（如上表所示）。XRF分析儀可以探測到這些地球化學(xué)特征，從而可使地質(zhì)學(xué)家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號地球化學(xué)模式）

*每個光束120秒的檢測時間，無干擾的二氧化硅基質(zhì)；請參閱奧林巴斯有關(guān)檢出限的文件，了解有關(guān)更低檢出限的詳細(xì)探討說明。

用于探測金元素的XRF分析儀

眾所周知，手持式XRF分析儀不能對地質(zhì)樣本中低含量的金元素進(jìn)行直接檢測（如：低ppm和ppb值）?；趯?shí)驗(yàn)室的火試金法被普遍認(rèn)為是分析金元素的優(yōu)選方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯誤的金元素存在的判斷。

不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析儀對金元素進(jìn)行直接檢測。

金礦上越來越多的實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF技術(shù)替代或補(bǔ)充火試金法，對礦石進(jìn)行分析。請參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“在金礦實(shí)驗(yàn)室中使用手持式XRF分析儀”。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測活性炭中的金元素。請參閱奧林巴斯應(yīng)用注釋“檢測活性炭中的金元素”。

圖像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中對來自便攜式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢和局限性，地球化學(xué)：勘探，環(huán)境，分析。
來自加拿大的金元素勘探項(xiàng)目，XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線圖對比ICP分析。

【儀器/耗材清單】

用于采礦業(yè)和地球化學(xué)領(lǐng)域的Vanta分析儀用于采礦業(yè)和地球化學(xué)領(lǐng)域的Vanta手持式XRF分析儀可以在現(xiàn)場立即進(jìn)行元素分析，完成地球化學(xué)勘探、礦石品位控制、選礦及環(huán)境治理工作。