立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:400-855-8699轉(zhuǎn)8059
聯(lián)系我們時請說明在儀器網(wǎng)(www.sdczts.cn)上看到的!
與已有的 GC/NCI-LRMS 方法相比,新穎的 GC-Q-TOF-MS 方法在分析環(huán)境樣品中的 CPs 時具有諸多優(yōu)勢。該方法在同時分析復(fù)雜環(huán)境樣品中的 SCCPs 和 MCCPs 時尤其GX,并且通過精確質(zhì)量提取,可有效消除 CPs 內(nèi)部的干擾。比較由不同環(huán)境樣品定量的結(jié)果表明,高分辨率 TOF-MS方法能夠減少來自不同基質(zhì)的干擾。此外,GC-Q-TOF-MS 方法表現(xiàn)出與之前的方法相當?shù)木€性范圍和檢測限,并具有更高的準確度。另外,由于該方法在分析時間和定量過程方面具有很高的效率,因此適用于大量樣品的高通量分析。應(yīng)考慮進一步應(yīng)用該 GC-Q-TOF-MS 方法,以更準確地分析不同基質(zhì)中的 CPs。
相關(guān)產(chǎn)品
全部評論(0條)
推薦方案
相關(guān)解決方案
參與評論
登錄后參與評論