前言

痕量和超痕量多環(huán)芳烴 (PAH) 分析是國際上評(píng)估環(huán)境質(zhì)量和食品純度的重要途徑。本應(yīng)用介紹了利用電子轟擊單四極桿對(duì)痕量級(jí)PAH 的掃描質(zhì)譜分析。對(duì)于這類具有挑戰(zhàn)性的物質(zhì)分離而言，由于對(duì)每根GC 色譜柱均進(jìn)行了充分的柱惰性測(cè)試，因此進(jìn)一步增加了分析工作者對(duì)結(jié)果準(zhǔn)確度的信心。

安捷倫已經(jīng)采用了新的測(cè)試方法來更為有效地評(píng)價(jià)GC 柱的惰性，這個(gè)新的檢測(cè)方法專門使用高活性探針，深入探察色譜柱的惰性和品質(zhì)。這些高活性探針包括1-丙酸、4-甲基吡啶和磷酸三甲酯等，均可用于色譜柱惰性的檢驗(yàn)。這是一種為每根Agilent J&W 超高惰性GC 色譜柱系列產(chǎn)品建立一致的基準(zhǔn)惰性檔案的嚴(yán)格方法。