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http://www.spm.com.cn/papers/p42.pdf
利用原子力/摩擦力顯微鏡研究了進口Sony,TDK和國產(chǎn)Nature,Top,ZZZ錄音帶的表面形貌及納米級載荷下的微摩擦性能試驗結(jié)果表明:3種國產(chǎn)帶的粗糙度和粒度與進口Sony和TDK帶相當(dāng);Sony帶的微摩擦力大于同樣載荷下Nature帶,且其摩擦系數(shù)也略大于Nature帶微摩擦力與表面形貌斜率間有較好的對應(yīng)關(guān)系;摩擦力隨載荷表面形貌斜率及表面粘著力的增加而增大
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http://www.spm.com.cn/papers/p42.pdf 掃描探針顯微鏡(SPM/AFM/STM)
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