LUM 是世界上wei一擁有靜置和離心加速兩個(gè)系列穩(wěn)定性分析儀的生產(chǎn)廠商。利用du家ZL的STEP 技術(shù)—空間和時(shí)間透光率掃描技術(shù)（圖1），LUM 各系列穩(wěn)定性分析儀可在樣品靜置或離心加速的同時(shí)，設(shè)置任意時(shí)間長(zhǎng)度的掃描間隔（zui低可每秒鐘掃描一次）對(duì)樣品進(jìn)行任意位置的透光率變化的檢測(cè)。通過(guò)每個(gè)樣品獨(dú)特的透光率指紋圖譜，可以對(duì)樣品的分離行為和過(guò)程分析，得到樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)，界面遷移速度，顆粒速度和分布，粒度和分布等定量分析。