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2025-06-01 04:22:27植物營養(yǎng)診斷儀: 植物營養(yǎng)診斷儀是一種專門用于檢測植物葉片或土壤中養(yǎng)分含量的科學(xué)儀器。它采用先進的傳感技術(shù)和分析算法，能夠準確、快速地測定植物所需的氮、磷、鉀等多種營養(yǎng)元素含量，為植物營養(yǎng)狀況的診斷提供科學(xué)依據(jù)。該儀器廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、園藝等領(lǐng)域，幫助用戶了解植物的營養(yǎng)需求，指導(dǎo)合理施肥，提高作物產(chǎn)量和品質(zhì)。植物營養(yǎng)診斷儀具備高精度、高穩(wěn)定性及操作簡便的特點。

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植物營養(yǎng)診斷儀問答

2023-08-04 11:22:00光纖微裂紋診斷儀（OLI）如何快速對硅光芯片耦合質(zhì)量檢測？: 硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯(lián)質(zhì)量。耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配。準確測量耦合位置質(zhì)量及硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，對硅光芯片設(shè)計和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測，非常有優(yōu)勢，可精準探測到光鏈路中每個事件節(jié)點，具有靈敏度高、定位精準、穩(wěn)定性高、簡單易用等特點，是硅光芯片檢測不二選擇。OLI測試硅光芯片耦合連接處質(zhì)量使用OLI測量硅光芯片耦合連接處質(zhì)量，分別測試正常和異常樣品，圖1為硅光芯片耦合連接處實物圖。圖1硅光芯片耦合連接處實物圖OLI測試結(jié)果如圖2所示，圖2（a）為耦合正常樣品，圖2（b）為耦合異常樣品。從圖中可以看出第一個峰值為光纖到硅基波導(dǎo)耦合處反射，第二個峰值為硅基波導(dǎo)到空氣處反射，對比兩幅圖可以看出耦合正常的回損約為-61dB，耦合異常，耦合處回損較大，約為-42dB，可以通過耦合處回損值來判斷耦合質(zhì)量。（a）耦合正常樣品（b）耦合異常樣品圖2 OLI測試耦合連接處結(jié)果OLI測試硅光芯片內(nèi)部裂紋使用OLI測量硅光芯片內(nèi)部情況，分別測試正常和內(nèi)部有裂紋樣品，圖3為耦合硅光芯片實物圖。圖3.耦合硅光芯片實物圖OLI測試結(jié)果如圖4所示，圖4（a）為正常樣品，圖中第一個峰值為光纖到波導(dǎo)耦合處反射，第二個峰值為連接處到硅光芯片反射，第三個峰為硅光芯片到空氣反射；圖4（b）為內(nèi)部有裂紋樣品，相較于正常樣品再硅光芯片內(nèi)部多出一個峰值，為內(nèi)部裂紋表現(xiàn)出的反射。使用OLI能精準測試出硅光芯片內(nèi)部裂紋反射和位置信息。（a）正常樣品（b）內(nèi)部有裂紋樣品圖4.OLI測試耦合硅光芯片結(jié)果因此，使用光纖微裂紋診斷儀（OLI）測試能快速評估出硅光芯片耦合質(zhì)量，并精準定位硅光芯片內(nèi)部裂紋位置及回損信息。OLI以亞毫米級別分辨率探測硅光芯片內(nèi)部，可廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

2022-03-01 14:33:45擁有OFDR技術(shù)國產(chǎn)機LGA50 高分辨光學(xué)鏈路診斷儀新上市！: 去年東隆科技就已推出國內(nèi)自研產(chǎn)品，擁有OFDR技術(shù)的OCI 高分辨光學(xué)鏈路診斷儀，經(jīng)過一年多的市場考驗，成功的獲得了眾多客戶的青睞和認可。隨著與各領(lǐng)域工程師和研究人員的日常溝通了解到，由于實際應(yīng)用場景的不同，測試指標和具體參數(shù)多樣化的特性，而單一的產(chǎn)品不能有效滿足需求。因此，東隆科技研發(fā)部經(jīng)過多方面的調(diào)研和考察，陸續(xù)推出了擁有OFDR核心技術(shù)的眾多產(chǎn)品線，它們無論從產(chǎn)品性能、各參數(shù)指標、還是價格均能滿足不同客戶的實際需求，并且在技術(shù)支持和售后服務(wù)方面，東隆科技還能做到7*24小時隨時應(yīng)答，48小時上門解決！第一時間為客戶答疑解惑！近日，東隆科技推出的LGA50高分辨光學(xué)鏈路診斷儀，其原理是基于光頻域反射（OFDR）技術(shù)，測量長度50m,單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷。LGA50還可以輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點和斷點，并精確測量回損、插損和光譜等參數(shù)，其事件點定位精度高達0.1mm。它廣泛的應(yīng)用于光器件、光模塊測量，光纖長度精準測量，硅光芯片測量，和光譜、群延時測量。產(chǎn)品特點? 波長范圍：1535~1620nm? 空間分辨率：10μm@50m? 測量長度：50m? 自校準，無需人為干預(yù)，穩(wěn)定性好產(chǎn)品參數(shù)注明：不同模式下測量時間不同