透射電鏡是用于觀察組織細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)的大型精密電子儀器，已廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等各個研究領(lǐng)域，成為研究細(xì)胞生物學(xué)、組織學(xué)、病理學(xué)、解剖學(xué)以及臨床病理診斷的重要工具之一。

透射電鏡在地質(zhì)勘探中的應(yīng)用

　　通過透射電鏡法可以尋找突水巷到，并且透射電鏡法也廣泛應(yīng)用于工程勘察。透射電鏡線源方法原理在地面上布設(shè)接地供電極A、B，向地下發(fā)送一次脈沖電流I，在一次脈沖電流間歇其間，在平行AB的測線上用接收線圈觀測地下二次渦流場的裝置。AB極距一般1～2km，AB中點(diǎn)至觀測線中點(diǎn)距離稱為偶極距或偏移距r。

　　當(dāng)向地下發(fā)送穩(wěn)定的電流時，AB供電線周圍將產(chǎn)生穩(wěn)定的一次磁場，當(dāng)供電電流突然斷開，一次磁場發(fā)生變化，由于一次磁場的變化，地下介質(zhì)將產(chǎn)生渦流，渦流又產(chǎn)生瞬變的二次磁場，從而阻止一次磁場的變化。供電電流斷開后，地下介質(zhì)中電磁場可用“煙圈”概念加以形象化，電磁場隨時間向地下深部擴(kuò)散。當(dāng)電磁場在擴(kuò)散過程中遇到地下電性存在差異時，電磁場將發(fā)生變化，可通過觀測到的電磁場的變化來研究地下電性結(jié)構(gòu)，從而達(dá)到解決地質(zhì)問題的目的。

透射電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

　　近年來有關(guān)“透射電鏡動態(tài)拉伸原位觀察”實驗技術(shù)在材料工作中開展的文章日益增多，主要反映在金屬材料的韌斷過程，應(yīng)力引發(fā)相變及塑料變形等領(lǐng)域。透射電鏡方法也廣泛用于材料的微觀組織觀察及分析。這些經(jīng)驗和啟發(fā)，為今后在材料科學(xué)中進(jìn)一步運(yùn)用做準(zhǔn)備。

　　由于實際流體中存在各種異相介質(zhì)會降低流體的破壞強(qiáng)度，從而使高速流動的液體因局部壓力下降而產(chǎn)生空化，形成空炮。當(dāng)這些空泡進(jìn)入流體的高壓后受到壓縮而潰滅，使產(chǎn)生一種很高頻率，壓力很大的微射流或沖擊波在造成材料表面剝落的同時也會引起表層組織的變化，而有關(guān)材料在空蝕過程中組織變化規(guī)律的研究對于弄清其抗空蝕機(jī)制具有很重要意義。

　　采用單側(cè)電解減薄方法制備透射電鏡試樣，無論對于奧氏穩(wěn)定的組織都適用。事實上，通常的雙側(cè)電解減薄是以試樣為陽極，二側(cè)機(jī)械減薄試樣不希望破壞的一側(cè)用AC紙保護(hù)起來再進(jìn)行電解減薄，也可以制備出比較理想的透射電鏡觀察樣品。這種方法的好處在于能夠Zda限度地保護(hù)Z終觀察到的組織，確定來自被損壞的試樣原始表面，特別是當(dāng)試樣中組織不穩(wěn)定且機(jī)械研磨回引起組織轉(zhuǎn)變的時候。此外，對于磨損及沖蝕等情況下材料損壞表面的透射電鏡觀察也具有重要的參考意義。

透射電鏡在提高鋼性能方面的應(yīng)用

　　鋼中夾雜物是影響鋼性能的重要原因之一。隨著冶金技術(shù)的提高，鋼中粗大有害夾雜物能夠得到控制。對于那些細(xì)小的夾雜物，采用過去常用的光學(xué)顯微鏡已經(jīng)無法觀察。透射電鏡具有分辨率高、放大倍數(shù)高的特點(diǎn)，已成為夾雜物研究的Z有利工具。鋼中夾雜物分析方法有分散晶體法、萃取復(fù)型法及金屬薄膜法。

　　分散晶體法適合于對夾雜物的形態(tài)、尺寸的統(tǒng)計分析。萃取復(fù)型法適用于夾雜物的形態(tài)、尺寸、在鋼中的析出位置及與鋼的微觀組織關(guān)系的研究。金屬薄膜法適合于研究夾雜物的形成過程、復(fù)合夾雜物的結(jié)構(gòu)類型及其與基體的取向關(guān)系。

　　分散晶體法在透射電鏡中的STEM模式下觀察的夾雜物形態(tài)。定性測量該夾雜物的尺寸約為100～300nm，利用圖像分析儀可測得夾雜物的尺寸分布曲線和直方圖。用能譜儀可分別對每個夾雜物進(jìn)行分析，以確定夾雜物的成分。

　　萃取復(fù)型法是研究夾雜物的尺寸大小及分布對產(chǎn)品的性能所具有的較大影響。加熱溫度對夾雜物尺寸分布及數(shù)量的影響，由于加熱溫度低，鑄坯中的MnS不能完全溶解，熱軋板中觀察到較多的鑄態(tài)粗大MnS。加熱溫度較高的熱軋板MnS充分固溶，在軋制和隨后的冷卻中析出，由于析出溫度較低，夾雜物不能充分長大，因此夾雜物細(xì)小而均勻分布。

　　金屬薄膜法是將所要觀察的金屬減薄到電子束能夠穿透的厚度(100～300nm)。透射電鏡電子束在透過金屬時，與金屬晶體發(fā)生交互作用，獲得金屬晶體內(nèi)部的信息。如基體中的組織結(jié)構(gòu)，夾雜物的形態(tài)、成分及結(jié)構(gòu)等。