臺(tái)式掃描電鏡由三大部分組成:真空系統(tǒng),電子束系統(tǒng)以及成像系統(tǒng)。了解臺(tái)式掃描電鏡的組成結(jié)構(gòu),有利于更加合理的使用掃描電鏡,從而延長(zhǎng)掃描電鏡的使用壽命及提高操作的精確度。目前臺(tái)式掃描電鏡被廣泛用于材料科學(xué)、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的FZ、災(zāi)害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。
隨著科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)進(jìn)入了納米領(lǐng)域,人們對(duì)顯微技術(shù)、顯微儀器的要求越來越高,需求也日益增長(zhǎng)。
光學(xué)顯微鏡價(jià)格便宜,操作簡(jiǎn)單,但由于可見光波長(zhǎng)的限制,其放大倍數(shù)只能達(dá)到1000倍左右;傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡有效放大倍數(shù)可以達(dá)到數(shù)萬倍,具有大景深,是當(dāng)前材料科學(xué)、生物科學(xué)領(lǐng)域Z常用的表征手段之一,但其投資巨大,而且需要經(jīng)過嚴(yán)格培訓(xùn)的操作人員,使用不便。

為了解決這一矛盾,美國FEI公司在2004年提出了臺(tái)式掃描電鏡的概念。不同于傳統(tǒng)大型掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡是一種全新的設(shè)計(jì),其結(jié)合了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)。既保留的掃描電鏡較高的放大倍數(shù)和大景深,同時(shí)體積小、操作簡(jiǎn)便,價(jià)格僅為傳統(tǒng)電鏡的幾分之一,逼近高端光學(xué)顯微鏡的價(jià)格。
一、真空系統(tǒng)
臺(tái)式掃描電鏡真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。真空柱是一個(gè)密封的柱形容器。真空泵用來在真空柱內(nèi)產(chǎn)生真空。有機(jī)械泵、油擴(kuò)散泵以及渦輪分子泵三大類,機(jī)械泵加油擴(kuò)散泵的組合可以滿足配置鎢槍的臺(tái)式掃描電鏡的真空要求,但對(duì)于裝置了場(chǎng)致發(fā)射槍或六硼化鑭槍的臺(tái)式掃描電鏡,則需要機(jī)械泵加渦輪分子泵的組合。
成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中。真空柱底端為密封室,用于放置樣品。之所以要用真空,主要基于以下兩點(diǎn)原因:電子束系統(tǒng)中的燈絲在普通大氣中會(huì)迅速氧化而失效,所以除了在使用臺(tái)式掃描電鏡時(shí)需要用真空以外,平時(shí)還需要以純氮?dú)饣蚨栊詺怏w充滿整個(gè)真空柱。為了增大電子的平均自由程,從而使得用于成像的電子更多。
二、電子束系統(tǒng)
電子束系統(tǒng)由電子槍和電磁透鏡兩部分組成,主要用于產(chǎn)生一束能量分布極窄的、電子能量確定的電子束用以掃描成像。
電子槍:
電子槍用于產(chǎn)生電子,主要有兩大類,共三種。
一類是利用場(chǎng)發(fā)射效應(yīng)產(chǎn)生電子,稱為場(chǎng)發(fā)射電子槍。這種電子槍極其昂貴,在十萬美元以上,且需要小于10^-10torr的極高真空。但它具有至少1000小時(shí)以上的壽命,且不需要電磁透鏡系統(tǒng)。
另一類則是利用熱發(fā)射效應(yīng)產(chǎn)生電子,有鎢槍和六硼化鑭槍兩種。鎢槍壽命在30~100小時(shí)之間,價(jià)格便宜,但成像不如其他兩種明亮,常作為廉價(jià)或標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)式掃描電鏡配置。六硼化鑭槍壽命介于場(chǎng)致發(fā)射電子槍與鎢槍之間,為200~1000小時(shí),價(jià)格約為鎢槍的十倍,圖像比鎢槍明亮5~10倍,需要略高于鎢槍的真空,一般在10^-7torr以上;但比鎢槍容易產(chǎn)生過度飽和和熱激發(fā)問題。
電磁透鏡:
熱發(fā)射電子需要電磁透鏡來成束,所以在用熱發(fā)射電子槍的SEM上,電磁透鏡必不可少。通常會(huì)裝配兩組:匯聚透鏡:顧名思義,匯聚透鏡用匯聚電子束,裝配在真空柱中,位于電子槍之下。通常不止一個(gè),并有一組匯聚光圈與之相配。但匯聚透鏡僅僅用于匯聚電子束,與成像會(huì)焦無關(guān)。物鏡:物鏡為真空柱中Z下方的一個(gè)電磁透鏡,它負(fù)責(zé)將電子束的焦點(diǎn)匯聚到樣品表面。
三、成像系統(tǒng)
電子經(jīng)過一系列電磁透鏡成束后,打到樣品上與樣品相互作用,會(huì)產(chǎn)生次級(jí)電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線等一系列信號(hào)。所以需要不同的探測(cè)器譬如次級(jí)電子探測(cè)器、X射線能譜分析儀等來區(qū)分這些信號(hào)以獲得所需要的信息。雖然X射線信號(hào)不能用于成像,但習(xí)慣上,仍然將X射線分析系統(tǒng)劃分到成像系統(tǒng)中。有些探測(cè)器造價(jià)昂貴,比如Robinsons式背散射電子探測(cè)器,這時(shí),可以使用次級(jí)電子探測(cè)器代替,但需要設(shè)定一個(gè)偏壓電場(chǎng)以篩除次級(jí)電子。
放大率:與普通光學(xué)顯微鏡不同,在臺(tái)式掃描電鏡中,是通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以,臺(tái)式掃描電鏡中,透鏡與放大率無關(guān)。
場(chǎng)深:在臺(tái)式掃描電鏡中,位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱為場(chǎng)深,通常為幾納米厚,所以,臺(tái)式掃描電鏡可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。

作用體積:電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用,它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用,所以存在一個(gè)作用“體積”。作用體積的厚度因信號(hào)的不同而不同:
工作距離:工作距離指從臺(tái)式掃描電鏡物鏡到樣品Zgao點(diǎn)的垂直距離。如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。
成象:次級(jí)電子和背散射電子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次級(jí)電子。
表面分析:俄歇電子、特征X射線、背散射電子的產(chǎn)生過程均與樣品原子性質(zhì)有關(guān),所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層,所以只能用于表面分析。表面分析以特征X射線分析Z常用,所用到的探測(cè)器有兩種:能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高,后者非常精確,可以檢測(cè)到“痕跡元素”的存在但耗時(shí)太長(zhǎng)。
1、放大倍數(shù)高;
2、成像速度快;
3、大景深;
4、體積小巧;
5、操作簡(jiǎn)便;
6、價(jià)格便宜。
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