場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡-國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM5000Pro
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡-國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM5000Pro
掃描電子顯微鏡-量子高速掃描電子顯微鏡 HEM6000
雙束顯微鏡-量子聚焦離子束電子束雙束顯微鏡 DB550
透射電子顯微鏡-量子場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 TH-F120
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
SEM5000Pro
SEM5000Pro是低電壓高分辨的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,使用了高壓隧道技術(shù)(Super-Tunnel)、無(wú)交叉電子光路、靜電電磁復(fù)合物鏡設(shè)計(jì),減少了空間電荷效應(yīng),降低系統(tǒng)像差,實(shí)現(xiàn)了 1.2 nm@1 kV 的分辨能力。低壓下的成像分辨能力提升,可對(duì)不導(dǎo)電樣品或半導(dǎo)體樣品進(jìn)行直接觀察,有效降低了樣品輻照損傷。
豐富的擴(kuò)展能力
產(chǎn)品特點(diǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域
應(yīng)用案例
玻璃基底片 /3kV/ETD
催化劑 /5kV/Inlens
磁性粉末 /10 kV/Inlens
氮化硼納米片 /3kV/ETD
三元正極前驅(qū)體 /3kV/Inlens
高熵合金粉末 /10kV/BSED
金屬銅粉 /3kV/Inlens
陶瓷截面 /3kV/Inlens
鈷酸鋰 /3kV/Inlens
納米花 /1kV/Inlens
植物切片 /30kV/STEM-BF
植物切片 /30kV/STEM-DF
植物切片 /30kV/STEM-HAADF
勃姆石 /5kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/Inlens產(chǎn)品參數(shù)
| 關(guān)鍵參數(shù) | 分辨率 | 0.8 nm @ 15 kV,SE 0.7 nm @ 15 kV , (減速模式) 1.2 nm @ 1.0 kV,SE 0.7 nm @ 35 kV STEM |
| 加速電壓 | 20 V ~ 30 kV (可升級(jí)35kV) | |
| 放大倍率 | 1 ~ 2,500,000 x | |
| 電子槍類型 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
| 樣品室 | 攝像頭 | 雙攝像頭 (光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控) |
樣品臺(tái)行程 | X: 110 mm,Y: 110 mm,Z: 50 mm | |
| 探測(cè)器和擴(kuò)展 | 標(biāo)配 | 鏡筒內(nèi)電子探測(cè)器:Inlens 倉(cāng)室內(nèi)電子探測(cè)器:ETD |
| 選配 | 插入式背散射電子探測(cè)器(BSED)(五分割,可選配) 低真空二次電子探測(cè)器(LVD) 背散射衍射(EBSD) 樣品交換倉(cāng)(4 寸 /8 寸) 軌跡球&旋鈕板 | |
| 軟件 | 語(yǔ)言 | 中文SEM軟件 |
| 操作系統(tǒng) | Windows | |
| 導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航、軌跡球(選配) | |
| 自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 |
報(bào)價(jià):面議
已咨詢437次高速掃描電子顯微鏡 HEM6000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢494次聚焦離子束電子束雙束顯微鏡 DB550
報(bào)價(jià):面議
已咨詢456次場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 TH-F120
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1123次鎢燈絲掃描電鏡SEM2000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1226次鎢燈絲掃描電鏡SEM3200
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1043次鎢燈絲掃描電鏡SEM3300
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1044次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM4000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1365次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢519次場(chǎng)發(fā)射
報(bào)價(jià):¥3000000
已咨詢496次SEM 掃描電子顯微鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1044次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM4000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2147次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2594次場(chǎng)發(fā)射
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6839次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
報(bào)價(jià):¥2000000
已咨詢91次SEM 掃描電子顯微鏡
S-4800型高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(簡(jiǎn)稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場(chǎng),物鏡為半浸沒(méi)式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒(méi)式冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場(chǎng)電鏡SU8000系列高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào),實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測(cè);結(jié)合選配的STEM探測(cè)器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場(chǎng)電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬(wàn)倍提高到了800萬(wàn)倍。除此之外,為了能更好的應(yīng)對(duì)不同樣品的測(cè)試和保持并發(fā)揮出高性能,還對(duì)用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡(jiǎn)單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進(jìn)行獲得樣品表面像的時(shí)候,還可以對(duì)樣品的某個(gè)定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進(jìn)行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過(guò)簡(jiǎn)單的操作即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車(chē)、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(hào)(兩種類型,兩個(gè)等級(jí)),滿足眾多領(lǐng)域的測(cè)試需求。用戶可以根據(jù)實(shí)際用途(如微觀結(jié)構(gòu)控制:用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產(chǎn)品品質(zhì))選擇適合的產(chǎn)品。
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測(cè)器,磁性材料高分辨觀察,ding級(jí)X射線分析設(shè)計(jì),便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì),超大空間,多接口,升級(jí)靈活。
德Zeiss 電子束直寫(xiě)儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫(xiě)各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件,光子晶體,低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。