飛納臺式掃描電鏡Phenom ProX
蔡司激光共聚焦顯微系統(tǒng) LSM 990
日立FS300Ⅲ超聲波掃描顯微鏡
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡
日本電子JEOL-120KV 透射電子顯微鏡JEM-120i
TESCAN RISE電鏡拉曼一體化顯微鏡
| 電鏡能譜一體化設(shè)計，簡潔小巧 | ||
Phenom ProX 的能譜儀 EDS 是針對臺式電鏡設(shè)計的，本著臺式電鏡簡單易用，售后無憂的宗旨，Phenom ProX 的能譜儀 EDS 系統(tǒng)完全嵌入在電鏡主機中，利用半導(dǎo)體制冷，無需額外冷卻系統(tǒng)。 | ||
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5kV，10kV，15kV 三檔加速電壓 （4.8-15kV 加速電壓連續(xù)可調(diào)）Phenom ProX 提供三檔加速電壓，用戶可根據(jù)樣品類型和測試目的，靈活切換ZL樣品杯，30 秒快速成像 Phenom（飛納）ZL樣品杯、低真空設(shè)計、ZL的真空封鎖技術(shù)，裝入樣品后 30 秒內(nèi)即可得到高質(zhì)量圖像，耗時僅為傳統(tǒng)電鏡的 1/10 左右。
直接觀看絕緣體，無需噴金 Phenom（飛納）采用低真空技術(shù)，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效YZ荷電效應(yīng)的產(chǎn)生，直接觀測各種不導(dǎo)電樣品（如下圖所示）。 利用降低荷電效應(yīng)樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數(shù)提高 8 倍左右，而且不會影響燈絲壽命， 長壽命/高亮度/低色差 CeB6 燈絲 Phenom（飛納）采用逸出功為 2.5eV 的 CeB6 燈絲，其亮度為鎢燈絲的 10 倍，出射電子色差小，為您提供更高質(zhì)量的圖像，其使用壽命長達 1500 小時，為鎢燈絲的 10 倍，可正常使用 1-3 年無需更換燈絲，免去了您頻繁更換燈絲的麻煩，保證工作進度。環(huán)境適應(yīng)性高，完全防震 Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內(nèi)環(huán)境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設(shè)計，震動不會引起三者間的相對運動，使 Phenom 成像不受震動影響，可放置在較高樓層?；ヂ?lián)網(wǎng)遠程檢測 Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網(wǎng)絡(luò)，專業(yè)工程師可隨時為您遠程檢測系統(tǒng)、答疑解難，為您提供全方位的保護，讓您的 Phenom 隨時處于ZJ工作狀態(tài)。 豐富的拓展功能選件 | ||
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S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡（簡稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場，物鏡為半浸沒式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達到的最高水平。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探測器設(shè)計上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能，還對用戶輔助工能進行了強化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，簡單化，從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統(tǒng)，在進行獲得樣品表面像的時候，還可以對樣品的某個定點位置進行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例，進行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過簡單的操作即可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集?？捎糜阡撹F等工業(yè)材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外，SE系列包括4種型號（兩種類型，兩個等級），滿足眾多領(lǐng)域的測試需求。用戶可以根據(jù)實際用途（如微觀結(jié)構(gòu)控制：用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產(chǎn)品品質(zhì)）選擇適合的產(chǎn)品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，ding級X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM，利用曝光抗蝕劑，采用電子束直接曝光，可在各種襯底材料表面直寫各種圖形，圖形結(jié)構(gòu)（Z小線寬為10nm），是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件，光子晶體，低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。
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