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適合電子半導(dǎo)體研究的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

面議 (具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn))
飛納電鏡 AFM-SEM 歐洲 荷蘭 2026-04-14 12:09:03
售全國(guó) 入駐:8年 等級(jí):銀牌 營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
同款產(chǎn)品:SEM-AFM聯(lián)用(3件)
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產(chǎn)品特點(diǎn):

全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)

產(chǎn)品詳情:

適合電子半導(dǎo)體研究的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué))關(guān)聯(lián)分析。

 

· 設(shè)備掃描范圍(開(kāi)環(huán)):100μm×100μm×20μm

· 設(shè)備掃描范圍(閉環(huán)):80μm×80μm×16μm

· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm

· 樣品尺寸:21mm×11mm×8mm

· 樣品重量:100g

· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等



173441903544662800.jpg


應(yīng)用案例:半導(dǎo)體材料-二硫化鉬(MoS2)


硫化鉬(MoS2)是一種 2D 層狀 TMDCs,適合作為地球上豐富的催化劑或先進(jìn)電子設(shè)備中的 2D 半導(dǎo)體。需要充分理解這些單層的制造條件,以確??煽亢涂芍貜?fù)的屬性,如靈活性、獨(dú)特的電性或機(jī)械屬性。


半導(dǎo)體材料-二硫化鉬(MoS2).png


我們展示了 AFM-in-SEM 解決方案,用于精確和復(fù)雜分析通過(guò) CVD 在厚 SiO2/Si 上生長(zhǎng)的 MoS2 薄片。所有技術(shù)——SEM、AFM、EFM和相位成像——都在兩組不同制造條件下的樣本上同時(shí)測(cè)量。這種方法可以比較結(jié)果,以確定最佳的制造參數(shù),以實(shí)現(xiàn)所需的樣本特性。使用 AFM 地形、SEM、EFM 和相位成像對(duì) MoS2 進(jìn)行復(fù)雜表征。


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