LiteScope?掃描探針顯微鏡（SPM），便于集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。互補SPM和SEM技術的結(jié)合（CPEM）可以進行復雜的樣品分析，包括表面形貌、機械性能、電性能、化學成分、磁性等的表征。 還能與其他掃描電鏡附件相結(jié)合，如聚焦離子束（FIB）或氣體注入系統(tǒng)(GIS ）用于納米/微結(jié)構(gòu)的制備和表面改性可以對裝配結(jié)構(gòu)的快速和簡單的3D檢查。 同時，SPM和SEM測量能夠在同一地點、同一時間、同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)進行。

LiteScope?采用關聯(lián)探針和電子顯微鏡技術（CPEM），該技術利用兩種不同的技術對同一物體城鄉(xiāng)的方法。CPEM能夠同時對樣品表面的同一個區(qū)域進行SEM和AFM表征。

LiteScope?通常用于高真空環(huán)境，但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境。

工作溫度：+15°C至+25°C

標準工作壓力：10-5Pa~105Pa

外形尺寸：129 mm x 90 mm x 45-55 mm

掃描面積：22 mm x 11 mm x 8 mm

掃描范圍：100 um x 100 um x 100 um

分辨率： 0.2nm

1D/2D材料

GaAs納米線，在SEM中進行針尖定位，選擇合適的納米線進行相關分析。

生命科學

     細胞相關測試、分析及3D圖，生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化SEM/AFM表征 。

     3D形貌圖和粗糙度/高度/深度圖

      AFM/FIB/SEM

     用SPM/FIB/SEM-分層法分析集成電路的故障

金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強拉曼光譜（SER）的活性基底的方法?？墒褂肅PEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope?SPM（AFM）可以對納米顆粒上的石墨烯層進行表面成像，但SEM可以對石墨烯層下的納米顆粒進行成像。

含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退貨后的降解

利用CPEM可以快速、準確地識別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對比度，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術研究了樣品表面的腐蝕速率。

膠原支架上間充質(zhì)干細胞的研究

利用CPEM，可以同時用電子束和探針掃描同一個細胞并獲得圖像，以及細胞與基質(zhì)的相互作用，這意味著細胞在支架后粘附力擴展和環(huán)境友好。

材料科學

金屬應力和裂紋

材料形貌對比 

其他應用