安東帕激光粒度儀 Litesizer DIF系列
安東帕激光粒度儀 Litesizer DIF系列
安東帕激光粒度儀 Litesizer DIF系列
安東帕激光粒度儀 Litesizer DIF系列
安東帕 Litesizer DIA 500 動(dòng)態(tài)圖像法粒度分析儀
關(guān)鍵功能
三個(gè)角度，實(shí)時(shí)監(jiān)控，確保粒徑更準(zhǔn)確
Litesizer DLS 提供了三種不同的檢測(cè)角度選擇，來(lái)測(cè)量各種各樣的樣品，同時(shí)通過自動(dòng)角度選擇消除誤差。
多角度粒度測(cè)量 (MAPS) 測(cè)量模式提供了出色的分辨率，支持先進(jìn)的分析精度。
我們的連續(xù)透光率監(jiān)控技術(shù)是市面上獨(dú)有的，可在整個(gè)測(cè)量過程中提供樣品行為的實(shí)時(shí)反饋，為用戶提供有關(guān)沉降或結(jié)塊的實(shí)時(shí)信息。這種實(shí)時(shí)洞察提高了測(cè)量質(zhì)量和可靠性，使我們的系統(tǒng)成為準(zhǔn)確、可靠的顆粒分析最佳選擇。
市場(chǎng)領(lǐng)先的 Zeta 電位分析
我們的動(dòng)態(tài)光散射儀器的專利 cmPALS 技術(shù)采用獨(dú)特設(shè)計(jì)，可消除由老化效應(yīng)所引起的可重復(fù)不確定性。
此外，Omega 樣品池的創(chuàng)新設(shè)計(jì)大限度地減少了電場(chǎng)的梯度，進(jìn)一步提高了可重復(fù)性 (±3%)。我們的儀器具有業(yè)界領(lǐng)先的 zeta 電位測(cè)量粒度范圍（從 1.3 nm 到 100 μm），可提供最豐富的功能，確保在廣泛的應(yīng)用中獲得精確、一致的結(jié)果。
Kalliope：測(cè)量粒度的基準(zhǔn)軟件
Kalliope 軟件幾乎不需要用戶培訓(xùn)。
只需三次點(diǎn)擊即可進(jìn)行測(cè)量。我們獨(dú)特的單頁(yè)布局提供了輸入?yún)?shù)、測(cè)量信號(hào)和結(jié)果的實(shí)時(shí)概覽，讓您對(duì)所需了解的一切都一目了然。通過預(yù)先設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告和條理清晰的結(jié)果摘要，快速訪問測(cè)量結(jié)果。
如需更詳細(xì)的分析，請(qǐng)使用可自定義的報(bào)告模板、Excel 導(dǎo)出選項(xiàng)和高級(jí)分析功能。此外，Kalliope 完全符合 21 CFR Part 11，確保了數(shù)據(jù)的完整性和合規(guī)性。
滿足您所需的所有測(cè)量模式
利用 Litesizer DLS 701 的顆粒濃度測(cè)量模式，增強(qiáng)您的多功能性能，可對(duì)單個(gè)樣本中最多三個(gè)不同粒徑群體進(jìn)行免校準(zhǔn)濃度分析。無(wú)論您使用單角度 DLS 還是 MAPS，此模式均支持更大濃度范圍內(nèi)的單分散和多分散樣品。
此外，在精確的波長(zhǎng)和測(cè)量溫度下測(cè)量溶劑的折射率（歐洲專利 3 023 770），確保粒度和 zeta 電位結(jié)果的最高精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高達(dá) ±0.5% 的精確折射率測(cè)量。
最重要的是，Litesizer DLS 系列還能提供分子量測(cè)量。
功能強(qiáng)大的過濾器選項(xiàng)
Litesizer DLS 701 和 501 是市場(chǎng)上為用戶提供可在三個(gè)角度方向應(yīng)用的熒光和偏振濾光片之間獨(dú)特選擇的動(dòng)態(tài)光散射儀器。這使其能夠進(jìn)行顆粒濃度分析以及應(yīng)用過濾器的 MAPS 三角分析或特定的單角度分析 - 允許使用同類儀器無(wú)法進(jìn)行的分析類型（例如量子點(diǎn)的濃度測(cè)定）。
規(guī)格
| Litesizer DLS 701 | Litesizer DLS 501 | Litesizer DLS 301 | Litesizer DLS 101 | |
|---|---|---|---|---|
| 粒徑規(guī)格 | ||||
| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) | |||
| 測(cè)量范圍 | 0.3 nm 至 15 μm*（粒徑） | 0.3 nm 至 10 μm*（粒徑） | ||
| 測(cè)量角度 | 15°, 90°, 175°, 多角度粒徑測(cè)定 (MAPS) | 15°, 90°, 175° | 90° | 175° |
| 最低濃度 | 0.1 mg/mL (lysozyme) | 1 mg/mL (lysozyme) | 0.1 mg/mL (lysozyme) | |
| 最大濃度 | 50 % w/v (視樣品而定) | 40 % w/v (視樣品而定) | 50 % w/v (視樣品而定) | |
| 最小樣品體積 | 1.5 μL | 12 μL | ||
| 準(zhǔn)確度 | 在 NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)上優(yōu)于 ±2 % | |||
| 重復(fù)性 | 優(yōu)于 ±2%，基于 NIST 可追溯標(biāo)準(zhǔn) | |||
| 顆粒濃度規(guī)格 | ||||
| 分析模型 | 米氏理論 | - | - | - |
| 測(cè)量范圍 | 108 - 1013 個(gè)顆粒/mL（取決于樣品） | - | - | - |
| 粒徑上限 | 1 μm | - | - | - |
| 測(cè)量角度 | 15°, 90°, 175°, 多角度粒度測(cè)量 (MAPS) | - | - | - |
| 最小樣品體積 | 12 μL | - | - | - |
| 精度 | ± 10 % （取決于樣品） | - | - | - |
| 重復(fù)性 | +/- 5 % (取決于樣品) | - | - | - |
| Zeta 電位規(guī)格 | ||||
| 測(cè)量原理 | 電泳光散射 (ELS) / cmPALS | - | ||
| 測(cè)量范圍 | >= +/-1000 mV | - | ||
| 遷移率范圍 | 10-11 m2/V.s 至 2 x 10-7 m2/V.s | - | ||
| 尺寸范圍 | 1.3 nm 至 100 μm（直徑） | - | ||
| 最低樣品濃度 | 0.1 mg/mL（溶菌酶） | - | ||
| 最大樣品濃度 | 70 %w/v（視樣品而定） | - | ||
| 最大樣品電導(dǎo)率 | 200 mS/cm | - | ||
| 最小樣品體積 | 50 μL（取決于樣品粘度） | - | ||
| 準(zhǔn)確度 | 優(yōu)于 ±10 % | - | ||
| 重復(fù)性 | +/-3 % | - | ||
| 分子量規(guī)格 | ||||
| 測(cè)量原理 | 靜態(tài)光散射 (SLS) | - | ||
| 測(cè)量范圍（質(zhì)量） | 300 Da 至 20 MDa | - | ||
| 測(cè)量范圍（粒徑） | 最高 40 nm（直徑） | - | ||
| 測(cè)量角度 | 90° | - | ||
| 最低樣品濃度 | 0.1 mg/mL (溶菌酶) | - | ||
| 精度 | +/-10 % | - | ||
| 重復(fù)性 | +/-5 % | - | ||
| 透過率規(guī)格 | ||||
| 測(cè)量范圍 | 0 % 至 100 % | |||
| 最小樣品體積 | 15 μL | |||
| 精度 | 優(yōu)于 ±1 % | |||
| 折射率規(guī)格 | ||||
| 測(cè)量范圍 | 1.28 to 1.50 | - | - | |
| 最小樣品體積 | 1 mL | - | - | |
| 精度 | +/-0.5 % | - | - | |
| 一般規(guī)格 | ||||
| 光源 | 半導(dǎo)體激光二極管 / 40 mW，658 nm | |||
| 光學(xué)濾光片（熒光、垂直偏振和水平偏振） | 前向、側(cè)向和反向散射 | - | ||
| 激光預(yù)熱時(shí)間 | 6 min | |||
| 溫度控制范圍 | 0 °C 至 120 °C | |||
| 環(huán)境運(yùn)行溫度 | 10 °C 至 35 °C | |||
| 濕度 | 最高 80 %，非冷凝 | |||
| 尺寸（寬、深、高） | 450 mm, 505 mm, 135 mm | |||
| 重量 | 約 18 kg (40 lb) | 約 16.3 kg (36 lb) | ||
上傳人：安東帕(上海)商貿(mào)有限公司
大?。?2.59 MB
140
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢742次顆粒/粉末分析儀器
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢4748次顆粒/粉末分析儀器
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3983次顆粒/粉末分析儀器
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢6944次BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3678次BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢4022次BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢6987次顆粒/粉末分析儀器
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1365次BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位分析儀
報(bào)價(jià)：￥999999
已咨詢789次APS-100 高濃度納米粒度儀
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢1830次Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
安東帕無(wú)汞式孔徑分析儀PoreMaster eGaIn 加注站作為業(yè)界首款無(wú)汞孔隙度測(cè)定解決方案，該設(shè)備徹底摒棄了傳統(tǒng)壓汞法（MIP）中具有毒性的汞，轉(zhuǎn)而采用安全無(wú)毒的低熔點(diǎn)鎵銦合金（eGaIn）作為填充介質(zhì)，在保持高精度測(cè)量性能的同時(shí)，引領(lǐng)實(shí)驗(yàn)室走向綠色、安全與可持續(xù)發(fā)展。
安東帕 Xsample 系列重新定義了黏度最高 1000 mPa·s 的低黏度樣品的自動(dòng)化密度測(cè)量。新推出的 Xsample 3100、3200、5100 和 5200，以更快速、更智能且更靈活的自動(dòng)化解決方案，拓展了我們久經(jīng)市場(chǎng)驗(yàn)證的產(chǎn)品組合。無(wú)論您是偶爾處理單個(gè)樣品，還是全天開展高通量分析，新一代 Xsample 都能為您的工作流程提供適配的自動(dòng)化水平——從簡(jiǎn)單的“放樣即啟動(dòng)”操作，到完全集成的清洗程序和干燥程序。
安東帕差示掃描量熱儀：兼具速度與精度安東帕強(qiáng)大的新型差示掃描量熱儀可助力操作效率，助您在時(shí)間與精度至關(guān)重要的領(lǐng)域獲得制勝優(yōu)勢(shì)。
安東帕激光粒度分析儀LitesizerDIF100/300/500是一款高性能粒度分析設(shè)備，適用于多種工業(yè)環(huán)境。配備高功率激光器和寬衍射角檢測(cè)范圍，結(jié)合Kalliope軟件，實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確、易操作的粒度分析。其堅(jiān)固設(shè)計(jì)和高效分散系統(tǒng)確保在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定性和安全性，廣泛適用于質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。
關(guān)注微信公眾號(hào)
微信小程序
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
分享
收藏
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)