ChemiSEM技術(shù)結(jié)合了掃描電鏡 (SEM) 和與 X 射線能譜 (EDS)，可簡化對金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟材料等多種材料的復(fù)雜分析。

更優(yōu)的用戶體驗

ChemiSEM通過一個軟件系統(tǒng)同時進行SEM和EDS分析，大大減少了新用戶學(xué)習(xí)時間，使得分析更加順暢，延長了機器的有效機時，在同樣的時間里分析更多的樣品。

強大的分析性能

ChemiSEM技術(shù)可實時自動處理原始信號，生成定量圖。對數(shù)據(jù)進行解卷積，避免出現(xiàn)和峰和重疊峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用實驗數(shù)據(jù)中所有具有統(tǒng)計學(xué)意義的譜圖對每個獨特的相位進行系統(tǒng)性的識別，而不依賴于對樣品的預(yù)先假設(shè)；不僅如此，ChemiSEM技術(shù)通過持續(xù)監(jiān)測樣本位置，可自動校正樣本漂移。

可靠的數(shù)據(jù)質(zhì)量

ChemiSEM 技術(shù)提供了智能、全自動化的自動 ID 優(yōu)化、數(shù)字峰值擬合和矩陣校正程序，使各類用戶都能獲得可靠的結(jié)果。隨著數(shù)據(jù)的累積，一系列統(tǒng)計驗證程序?qū)⒊掷m(xù)自動對數(shù)據(jù)進行建模和優(yōu)化，讓用戶安心使用。

多樣的搭配機器

ChemiSEM技術(shù)將來可搭載 Thermo Scientific? Axia?、Apreo? 2 和 Quattro? 掃描電鏡，滿足不同類型用戶的需求。