熱反射法原理：用熱反射法可測量薄膜材料的熱擴散系數(shù)由于材料表面的反射率隨著表面溫度的變化而變化，樣品正面的溫度變化可以通過反射光強度的變化來觀測通過光電二極管可以探測光源的反射光強，從而得到樣品正面的溫度 日本PicoTherm公司的系列產(chǎn)品薄膜材料熱學(xué)性能超快測量系統(tǒng)是和日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所 (AIST) 聯(lián)合開發(fā)的其中 NanoTR 和 PicoTR 系列產(chǎn)品基于Zxin的脈沖光熱反射法，是市面上**能夠?qū)單⒚准墑e(10nm-10m)的薄膜材料(金屬陶瓷介電)的熱學(xué)性質(zhì)(多層膜中每層膜的熱擴散系數(shù)邊界熱阻等)進行測量的設(shè)備公司另外還有一款基于激光閃光法測量熱電材料的比熱熱擴散系數(shù)電阻以及塞貝克系數(shù)等熱電性質(zhì)的設(shè)備 FlashTE，可供您選擇 薄膜材料熱學(xué)性能超快測量系統(tǒng)