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FT150h配備了新型聚光光學(xué)系以及升級(jí)后的Vortex?檢測(cè)器，對(duì)于從前機(jī)種難以測(cè)量的微小范圍，實(shí)現(xiàn)了同時(shí)高精度測(cè)量更厚的Sn與它下面的Ni，此份資料中介紹了針對(duì)陶瓷片式原器件的疑似樣品，Ag上的Sn/Ni雙層膜的同時(shí)測(cè)量的案例 日立 FT150系列 熒光X射線鍍層膜厚測(cè)量儀

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