- 2025-01-21 09:30:22FIB制樣
- FIB制樣即聚焦離子束（Focused Ion Beam）制樣技術(shù)，是一種利用聚焦離子束對材料進(jìn)行精確切割、沉積和蝕刻的制樣方法。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體器件分析等領(lǐng)域，可用于制備透射電鏡（TEM）樣品、掃描電鏡（SEM）樣品等。FIB制樣具有高精度、高效率和高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，能夠?qū)崿F(xiàn)復(fù)雜樣品的制備和分析。
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