MDpicts溫度依賴型壽命測試系統(tǒng)該設(shè)備可對材料電學(xué)特性進(jìn)行非接觸、無損傷的單點(diǎn)測量?？傮w而言，MD-PICTS設(shè)備適用于多種材料及不同制備階段的測量，涵蓋硅原料、裸片、各類中間制備階段樣品，以及砷...

HTpicts專門用于寬禁帶半導(dǎo)體中的少子壽命和深能級缺陷檢測，用于寬禁帶材料在高溫區(qū)間的非接觸、無損傷的溫度依賴型測量，涵蓋少子壽命、電學(xué)特性表征及深能級缺陷研究。

用于生產(chǎn)和研究實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用的MDpicts pro（高分辨率變溫少子壽命測試儀系統(tǒng)）。全自動設(shè)備，以非接觸、無破壞方式繪制材料的電輸運(yùn)特性。

用于科研及生產(chǎn)應(yīng)用的MDpicts pro（原位變溫缺陷能級表征系統(tǒng)）。使用非接觸式光電導(dǎo)率衰減法、深能級瞬態(tài)譜(DLTS)技術(shù)，尤其針對溫度依賴的載流子壽命測量系統(tǒng)（面掃和單點(diǎn)）。

傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)常依賴反射鏡改變光路,但反射鏡需精密校準(zhǔn)且易受振動影響.而DPM100是一款基于無鏡熔融石英雙棱鏡框架設(shè)計(jì)的單色儀,通過棱鏡的全內(nèi)反射特性直接實(shí)現(xiàn)光路轉(zhuǎn)折,減少外部反射鏡的使用.

微波探測的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級的電性能表征。

確定單晶的完全晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位，測量立方晶體任意未知取向的測定，特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記。氣冷式x射線管，無需水冷， 適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制。 X射線單...

Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他...

德國弗萊貝格儀器Quatrz XRD——石英晶體X射線衍射儀主要應(yīng)用于對石英棒、硅片和坯料進(jìn)行生產(chǎn)質(zhì)量控制。而根據(jù)樣品對象的不同，Quatrz XRD可以分為Quatrz Bar XRD、Quatrz...

可以集成任何自動化或處理系統(tǒng)且適用于極端環(huán)境(研磨、鋸切) 緊湊、標(biāo)準(zhǔn)的工業(yè)接口 單獨(dú)的定位測量，可測量平面或圓周

在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。

測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強(qiáng)烈的強(qiáng)度降低。

晶體（如SiC的晶錠）。這些需要在線切過程之前進(jìn)行定向?qū)?zhǔn)。Freiberg儀器公司提供了一個方便的支架系統(tǒng)，使用Omega-scan對準(zhǔn)晶錠。整個堆垛被轉(zhuǎn)移到線鋸。平行的鋸切可極大節(jié)省時間，極大提升...

Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進(jìn)行掃描。由于樣品上X射線光斑的...

晶錠XRD有著先進(jìn)的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。

Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他...