-
認證會員 第 9 年
束蘊儀器（上海）有限公司
認證：工商信息已核實
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- （ 日本）日本Ulvac-Phi
- （ 德國）德國Freiberg
- （ 德國）弗萊貝格
- （ 德國）德國克呂士
- （ 英國）英國HEL
- （ 美國）Ionoptika
- （ 美國）美國PHI
- （ 法國）日本堀場
- （ 美國）美國麥克默瑞提克
- （ 英國）英國赫爾
- （ 美國）Ionoptika
- （ 德國）德國默克
- （ 美國）美國MDI
- （ 閔行區(qū)）束蘊儀器
- （ 美國）美國ICDD
- （ 德國）德國艾力蒙塔
- （ 德國）德國布魯克
-
儀企號
束蘊儀器（上海）有限公司
-
友情鏈接
-
動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀D-SIMS價格：￥15000000- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：ADEPT-1010
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
ADEPT-1010 專為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動分析而設(shè)計，是大 多數(shù)半導(dǎo)體開發(fā)和支持實驗室的常用工具。
-
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀價格：面議- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：PHI nano TOF 3+
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
-
- 品牌：美國PHI
- 型號：02
- 產(chǎn)地：美洲 美國
TOF-SIMS 中，根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜，能更詳細的對 化學(xué)結(jié)構(gòu)進行分析。
-
- 品牌：美國PHI
- 型號：PHI X-tool
- 產(chǎn)地：美洲 美國
一束高能初級離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片 只一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開表面，被質(zhì)量分析器探測出來 對于無機材料, 原子離子百分含量> 10%
-
- 品牌：Ionoptika
- 型號：The J105 SIMS
- 產(chǎn)地：美洲 美國
度和優(yōu)異的成像和質(zhì)譜性能。J105將創(chuàng)新設(shè)計和優(yōu)異科學(xué)與各方面的功能列表相結(jié)合，重新定義了ToF SIMS的功能。
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號