ADEPT-1010 專為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動分析而設(shè)計，是大 多數(shù)半導(dǎo)體開發(fā)和支持實驗室的常用工具。

PHI 硬X射線光電子能譜儀，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(QDs)，結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPES(Cr Ka x射線)對同一微觀特征區(qū)域進(jìn)...

PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計獨特的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。

PHI nano TOF3+，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度

PHI Genesis 500是新一代配置了全自動多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜，易操作式多功能選配附件，能夠?qū)崿F(xiàn)全自動樣品傳送停放，同時還具備高性能大面積和微區(qū)XPS 分析，快速準(zhǔn)確深度剖析，為電...

雖然所有離子束都會濺射或蝕刻，但我們的一些系統(tǒng)的表面是專為高效和快速濺射而設(shè)計的。濺射光束有三個特點：高電流、大光斑尺寸和寬視場。這些特性的結(jié)合意味著它們可以在大面積上盡快輸送大劑量的離子，以優(yōu)化蝕刻...

lonoptika公司的C60-20是一種高性能的20kV離子束系統(tǒng)，用于高化學(xué)復(fù)雜性樣品的SIMS分析。C60-20是一種功能強(qiáng)大，成本效益高的分析離子束系統(tǒng)，可以較大限度地利用SIMS分析。

C60-40是目前性能較高的C60光束，具有300納米的光斑尺寸和高達(dá)1毫安的束流。從生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用到聚合物科學(xué)和冶金，C60-40都可以做到這一點。得益于與其他C60離子束相同的均勻濺射，但由于更高的...

GCIB10S是一種高性能10千伏氣體團(tuán)簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實時集群大小測量和內(nèi)置樣本電流成像系統(tǒng)，以幫助您充分利用實驗。

GCIB 40是一種40 kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對分子離子敏感的分析應(yīng)用。GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有單獨的的能力。在40千伏電壓下工作的GCIB...

GCIB 70是一種70 kV高性能氣體團(tuán)簇離子束，可產(chǎn)生高度聚焦的團(tuán)簇離子束，用于高分辨率成像SIM，具有沒有可以比較的的靈敏度。在SIMS中使用氣體團(tuán)簇束的好處現(xiàn)在已得到充分證實；高質(zhì)量團(tuán)簇在濺射...

1.使用CMA通州分析器，同時實現(xiàn)高靈敏度和高傳輸率。即使在低電流高空間分辨率情況下，都可輕松的進(jìn)行分析。 2.以20kV加速電壓和電流1nA進(jìn)行俄歇分析，AES空間分辨率可達(dá)≤8nm 3.在保有...

TOF-SIMS 中，根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜，能更詳細(xì)的對 化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。

一束高能初級離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片 只一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開表面，被質(zhì)量分析器探測出來 對于無機(jī)材料, 原子離子百分含量> 10%

度和優(yōu)異的成像和質(zhì)譜性能。J105將創(chuàng)新設(shè)計和優(yōu)異科學(xué)與各方面的功能列表相結(jié)合，重新定義了ToF SIMS的功能。

PHI GENESIS X射線光電子能譜儀 提供了一種全新的用戶體驗，儀器高性能、全自動化、簡單易操作。 操作界面可在同一個屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級的多功能測試參數(shù)，同時保留諸如進(jìn)樣照片導(dǎo)航和 SXI ...