Phenom MAPS 大面積圖像拼接
ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡全景拼圖【新品】
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
自動(dòng)硅藻檢驗(yàn) DiatomScopeTM
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡ChemiPhase物相分析軟件
更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
對(duì)于金屬合金和礦物分析領(lǐng)域的研究人員來說,物相分析 非常重要,物相分析通??梢越柚鷴呙桦婄R背散射電子信 號(hào)成像(BSE)和能譜(EDS 成分分析)來進(jìn)行判定。 掃描電鏡背散射電子成像(BSE)信號(hào)強(qiáng)度隨原子量而變 化,可以通過成分襯度尋找異質(zhì)材料。但是,如果材料具 有相似的原子量或材料的化學(xué)性質(zhì)過于復(fù)雜,則 BSE 對(duì)比 度可能會(huì)很差,從而導(dǎo)致不完整的表征結(jié)果,甚至可能出 現(xiàn)錯(cuò)誤結(jié)論
ChemiPhase 物相分析軟件可幫助我們輕松找到問題答案,并且給出 以下信息:成分是什么,它是如何分布的,以及每個(gè)相有多少。 飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是 ChemiSEM 技術(shù)中一種新型物相鑒定和定量表征手段, 旨在通過結(jié)合先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平臺(tái)來識(shí)別獨(dú)特的物相,并識(shí)別成分列出 其面積分?jǐn)?shù),從而應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)
什么是 ChemiPhase 物相分析軟件
飛納電鏡 ChemiSEM 軟件使用大數(shù)據(jù)方法來采集樣品的立體數(shù)據(jù),自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出具有統(tǒng)計(jì)意義的 物相。然后,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件為每個(gè)像素提供一個(gè)簡(jiǎn)單的概率,指示它歸 屬于哪個(gè)相。因?yàn)槊總€(gè)像素只能屬于一個(gè)相,這使得復(fù)雜樣品的解釋更加直接并且直觀。值得注 意的是,飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是一個(gè)全面、準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)軟件,可以解決傳統(tǒng)方 法的難題。傳統(tǒng)方法如果遺漏了元素(即,由于重疊的峰或強(qiáng)度不足),可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié) 果。此外,傳統(tǒng)的物相測(cè)定高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè),而 ChemiPhase 物相分析軟件可確保所 有用戶都能獲得相同的結(jié)果,即使是具有挑戰(zhàn)性的樣品也是如此。
ChemiPhase 物相分析軟件優(yōu)勢(shì)軟件優(yōu)勢(shì) 不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成大多數(shù)采集,即使是復(fù)雜的相圖也是如此 全自動(dòng)運(yùn)行,無需事先識(shí)別元素 明確識(shí)別主要和次要組件,精確到單個(gè)像素 無需豐富的用戶體驗(yàn)即可定位微量和微量元素 提供完整而全面的分析 定位峰重疊會(huì)掩蓋重要元素的獨(dú)特組分 可以使用非常少的 X 射線數(shù)據(jù)開始相位測(cè)定,每個(gè)像素低至 10 個(gè)計(jì)數(shù)。
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已咨詢3671次場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
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已咨詢5417次CeB6燈絲掃描電鏡
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已咨詢4614次CeB6燈絲掃描電鏡
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已咨詢6685次CeB6燈絲掃描電鏡
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已咨詢535次電鏡智能軟件
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已咨詢3402次色譜數(shù)據(jù)系統(tǒng)
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已咨詢513次冷凍電鏡 (Cryo-EM)
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已咨詢3617次全自動(dòng)清潔度分析
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已咨詢633次其它儀器
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已咨詢522次熒光壽命光譜儀
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已咨詢2007次顯微圖像軟件
GAIA 超分辨率點(diǎn)重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal.nl 推出的旗艦超分辨率共聚焦模塊,得益于專利的 REscan(重掃描技術(shù)),GAIA 超分辨率點(diǎn)重掃共聚焦顯微鏡僅需幾納瓦的功率即可實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的深度成像。 1. 超分辨率成像:得益于專利的 REscan 技術(shù),GAIA 超分辨率的實(shí)時(shí)分辨率可達(dá) 170 nm,解卷積后可達(dá) 120 nm。 2. 可變針孔:搭配 6 個(gè)電動(dòng)可變針孔,使得設(shè)備在各種物鏡下均可達(dá)到完美共焦 3. 成像溫和:僅需幾納瓦的功率即可實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的深度成像,成像溫和,適合長(zhǎng)時(shí)間活細(xì)胞超分辨率成像。
1. 深層成像:無針孔串?dāng)_現(xiàn)象,更適合于深度成像,最高可達(dá) 900 μm 2. 超快成像:采用狹縫針孔的線性掃描,擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度(>100 fps @ 3Kx3K) 3. 超大視場(chǎng):遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)共聚焦的視場(chǎng)大小,最大支持 FN29 4. 可變針孔:唯一擁有 6 個(gè)電動(dòng)可變針孔的高速共聚焦系統(tǒng),針孔在各種物鏡下均可達(dá)到完美共焦 5. 低光毒性:更低的光毒性和光損傷,適合長(zhǎng)時(shí)間的活體成像
NL5+ 深層高速線重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal NL 推出的首款線重掃共聚焦模塊,采用狹縫針孔和 REscan(重掃描技術(shù)),擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度,且圖片質(zhì)量更好,成像深度更深,適用于高速、深層的 3D 成像,并顯著降低光毒性和光漂白。 1. 深層成像:無針孔串?dāng)_現(xiàn)象,更適合于深度成像 2. 超快成像:75 fps@2048x512 px,55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性:更低的光毒性和光損傷,適合長(zhǎng)時(shí)間的活體成像
ICSPI REDUX 原子力顯微鏡是一款基于芯片化技術(shù)(AFM-on-a-chip)的臺(tái)式納米表征設(shè)備,集高自動(dòng)化、快速掃描與易操作性于一體。系統(tǒng)無需復(fù)雜光學(xué)調(diào)節(jié)與激光對(duì)準(zhǔn),即可實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)分辨率的三維形貌成像與定量分析,廣泛適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)及教學(xué)實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 開發(fā)的一款芯片式原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)。該系統(tǒng)基于專利 CMOS-MEMS 技術(shù),將傳統(tǒng) AFM 的掃描器、傳感器和執(zhí)行機(jī)構(gòu)全部集成在一塊微型 MEMS 芯片上,實(shí)現(xiàn)了真正的小型化、自動(dòng)化和便捷化的納米級(jí)測(cè)量解決方案。
ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動(dòng)清潔度檢測(cè)設(shè)備。系統(tǒng)基于 SEM 與 EDS 技術(shù),可自動(dòng)識(shí)別并定量分析正負(fù)極材料中的金屬、磁性雜質(zhì)顆粒,幫助精準(zhǔn)溯源雜質(zhì)來源,降低安全與一致性風(fēng)險(xiǎn)。系統(tǒng)支持無人值守運(yùn)行,采用 3000 小時(shí)長(zhǎng)壽命 CeB6 晶體燈絲與高通量設(shè)計(jì),兼顧效率與穩(wěn)定性,并已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測(cè)方法與評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn),支持上下游統(tǒng)一對(duì)標(biāo)與質(zhì)量控制。
Phenom Pure 標(biāo)準(zhǔn)版是一款專為高分辨率成像設(shè)計(jì)的智能臺(tái)式掃描電鏡,采用獨(dú)家 CeB? 長(zhǎng)壽命燈絲,分辨率優(yōu)于 10 nm,具備 15 秒抽真空、30 秒成像的行業(yè)領(lǐng)先速度。設(shè)備支持升級(jí)至 Phenom Pro/ProX,可擴(kuò)展至二次電子探測(cè)和能譜分析。憑借自動(dòng)化硬件平臺(tái)、直覺式操作界面、防震防磁設(shè)計(jì)與極低的安裝要求,任何人都可在 30 分鐘內(nèi)上手使用。Phenom Pure 以高成像質(zhì)量、極致易用性和卓越穩(wěn)定性,成為科研、教學(xué)及工業(yè)質(zhì)控中最佳性價(jià)比的臺(tái)式掃描電鏡選擇。
為質(zhì)控與研發(fā)打造的自動(dòng)化臺(tái)式掃描電鏡 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗艦級(jí)臺(tái)式掃描電鏡平臺(tái),基于飛利浦—FEI—賽默飛近 80 年電鏡技術(shù)積淀打造。其穩(wěn)定可靠、易部署、自動(dòng)化程度高,專為 生產(chǎn)質(zhì)控、高通量檢測(cè)與研發(fā)場(chǎng)景 而設(shè)計(jì)。 大倉室設(shè)計(jì),可容納 36 個(gè)樣品,1 分鐘完成裝樣到出圖,自動(dòng)化、AI 分析、能譜一體化,3000h CeB6 燈絲,平均 5 年更換一次,適用于金屬、電子陶瓷、半導(dǎo)體、粉末、濾膜、電池材料等多行業(yè)。