Neoscan NXL 臺式大倉顯微CT
Neoscan NXL 臺式大倉顯微CT
Neoscan NXL 臺式大倉顯微CT
Neoscan NXL 臺式大倉顯微CT
Neoscan N90 高分辨納米CT
想要同時掃描“大尺寸”與“高密度”樣品，卻被傳統(tǒng)顯微CT的穿透力和空間限制束縛？NEOSCAN 重磅推出 NXL 臺式大倉顯微 CT 系統(tǒng)，打破邊界，精準進化，開啟高穿透力臺式掃描新時代！
PART 1 Neoscan NXL 打破局限
傳統(tǒng)顯微 CT ：
難以掃描金屬、陶瓷等高密度材料
大尺寸樣品需切割或分段掃描
臺式系統(tǒng)往往穿透力不足
Neoscan NXL 臺式大倉顯微 CT:
NEOSCAN NXL 臺式大倉顯微 CT 是一款專為大尺寸、高密度物體設(shè)計的高性能臺式顯微 CT 掃描儀，搭載強大的 150 kV / 75 W 微焦點X射線源與超大幅面平板探測器，能夠輕松掃描直徑 30 厘米以上的樣品，即使是鋁鑄件、復(fù)雜電子器件也能實現(xiàn)高分辨率無損成像。
技術(shù)規(guī)格亮點
規(guī)格參數(shù) | ||
總體指標 | 像素分辨率 | 2.5 μm |
樣品尺寸 | 320 mm × 540 mm | |
設(shè)備尺寸 | 1500 × 791 × 720 mm | |
設(shè)備重量 | 530 kg | |
X射線源 | 最大電壓 | 150 kV |
最大功率 | 75 W | |
探測器 | 圖像探測器 | 13.5 MP / 14位動態(tài)范圍 平板探測器 |
掃描方式 | 圓周掃描、自動拼接、螺旋掃描 | |
PART 2 Neoscan NXL 應(yīng)用場景
NEOSCAN NXL 臺式大倉顯微 CT 廣泛適用于科研、工業(yè)檢測、教學(xué)與產(chǎn)品質(zhì)量控制等多個領(lǐng)域，尤其在以下應(yīng)用中表現(xiàn)亮眼：
航空航天：大型結(jié)構(gòu)件、復(fù)合材料缺陷檢測
汽車制造：鋁壓鑄件、電子控制單元掃描
電池&新能源：電芯、電極層結(jié)構(gòu)可視化分析
消費電子產(chǎn)品檢測：3C 電子、結(jié)構(gòu)件、PCB 焊點檢測
科研教學(xué)：材料科學(xué)、工程斷裂研究、結(jié)構(gòu)可視化
案例一 汽車水泵殼體鋁壓鑄件掃描
使用 Neoscan NXL 臺式大倉顯微 CT 以 35.9 微米像素大小掃描汽車鑄造鋁合金水泵殼體，半透明體積渲染，內(nèi)部空洞尺寸進行顏色編碼。直觀顯示缺陷分布，適合工業(yè)質(zhì)量控制與逆向分析。
案例二 15寸筆記本電腦內(nèi)部結(jié)構(gòu)掃描
使用 Neoscan NXL 臺式大倉顯微 CT 以 35 微米像素大小掃描15寸筆記本電腦，半透明渲染，呈現(xiàn)復(fù)雜電路、結(jié)構(gòu)布局，主板細節(jié)清晰可見。
您的樣品，值得更強大的檢測設(shè)備。NEOSCAN NXL 臺式大倉顯微 CT ，專為大尺寸、高密度樣品而生，為科研與工業(yè)賦能！了解更多產(chǎn)品詳情、應(yīng)用案例與測試，歡迎聯(lián)系我們！
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GAIA 超分辨率點重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal.nl 推出的旗艦超分辨率共聚焦模塊，得益于專利的 REscan（重掃描技術(shù)），GAIA 超分辨率點重掃共聚焦顯微鏡僅需幾納瓦的功率即可實現(xiàn)超越衍射極限的深度成像。 1. 超分辨率成像：得益于專利的 REscan 技術(shù)，GAIA 超分辨率的實時分辨率可達 170 nm，解卷積后可達 120 nm。 2. 可變針孔：搭配 6 個電動可變針孔，使得設(shè)備在各種物鏡下均可達到完美共焦 3. 成像溫和：僅需幾納瓦的功率即可實現(xiàn)超越衍射極限的深度成像，成像溫和，適合長時間活細胞超分辨率成像。
1. 深層成像：無針孔串?dāng)_現(xiàn)象，更適合于深度成像，最高可達 900 μm 2. 超快成像：采用狹縫針孔的線性掃描，擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度（>100 fps @ 3Kx3K） 3. 超大視場：遠高于傳統(tǒng)共聚焦的視場大小，最大支持 FN29 4. 可變針孔：唯一擁有 6 個電動可變針孔的高速共聚焦系統(tǒng)，針孔在各種物鏡下均可達到完美共焦 5. 低光毒性：更低的光毒性和光損傷，適合長時間的活體成像
NL5+ 深層高速線重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal NL 推出的首款線重掃共聚焦模塊，采用狹縫針孔和 REscan（重掃描技術(shù)），擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度，且圖片質(zhì)量更好，成像深度更深，適用于高速、深層的 3D 成像，并顯著降低光毒性和光漂白。 1. 深層成像：無針孔串?dāng)_現(xiàn)象，更適合于深度成像 2. 超快成像：75 fps@2048x512 px，55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性：更低的光毒性和光損傷，適合長時間的活體成像
ICSPI REDUX 原子力顯微鏡是一款基于芯片化技術(shù)（AFM-on-a-chip）的臺式納米表征設(shè)備，集高自動化、快速掃描與易操作性于一體。系統(tǒng)無需復(fù)雜光學(xué)調(diào)節(jié)與激光對準，即可實現(xiàn)亞納米級分辨率的三維形貌成像與定量分析，廣泛適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)及教學(xué)實驗等場景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 開發(fā)的一款芯片式原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）。該系統(tǒng)基于專利 CMOS-MEMS 技術(shù)，將傳統(tǒng) AFM 的掃描器、傳感器和執(zhí)行機構(gòu)全部集成在一塊微型 MEMS 芯片上，實現(xiàn)了真正的小型化、自動化和便捷化的納米級測量解決方案。
ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動清潔度檢測設(shè)備。系統(tǒng)基于 SEM 與 EDS 技術(shù)，可自動識別并定量分析正負極材料中的金屬、磁性雜質(zhì)顆粒，幫助精準溯源雜質(zhì)來源，降低安全與一致性風(fēng)險。系統(tǒng)支持無人值守運行，采用 3000 小時長壽命 CeB6 晶體燈絲與高通量設(shè)計，兼顧效率與穩(wěn)定性，并已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測方法與評價標準，支持上下游統(tǒng)一對標與質(zhì)量控制。
Phenom Pure 標準版是一款專為高分辨率成像設(shè)計的智能臺式掃描電鏡，采用獨家 CeB? 長壽命燈絲，分辨率優(yōu)于 10 nm，具備 15 秒抽真空、30 秒成像的行業(yè)領(lǐng)先速度。設(shè)備支持升級至 Phenom Pro/ProX，可擴展至二次電子探測和能譜分析。憑借自動化硬件平臺、直覺式操作界面、防震防磁設(shè)計與極低的安裝要求，任何人都可在 30 分鐘內(nèi)上手使用。Phenom Pure 以高成像質(zhì)量、極致易用性和卓越穩(wěn)定性，成為科研、教學(xué)及工業(yè)質(zhì)控中最佳性價比的臺式掃描電鏡選擇。
為質(zhì)控與研發(fā)打造的自動化臺式掃描電鏡 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗艦級臺式掃描電鏡平臺，基于飛利浦—FEI—賽默飛近 80 年電鏡技術(shù)積淀打造。其穩(wěn)定可靠、易部署、自動化程度高，專為 生產(chǎn)質(zhì)控、高通量檢測與研發(fā)場景 而設(shè)計。 大倉室設(shè)計，可容納 36 個樣品，1 分鐘完成裝樣到出圖，自動化、AI 分析、能譜一體化，3000h CeB6 燈絲，平均 5 年更換一次，適用于金屬、電子陶瓷、半導(dǎo)體、粉末、濾膜、電池材料等多行業(yè)。
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