全自動汽車清潔度分析系統(tǒng)
ParticleX Steel全自動鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)
全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)
飛納 增材制造評估 ParticleX AM
飛納 清潔度分析 ParticleX AC
ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)
為什么要做鋰電清潔度分析?
鋰離子電池的性能與正極材料的質量息息相關,當在正極材料中存在鐵(Fe)、銅(Cu)、鉻(Cr)、鎳(Ni)、鋅(Zn)、銀(Ag)等金屬雜質時,這些金屬會先在正極氧化再到負極還原,當負極處的金屬單質累積到一定程度,其沉積金屬堅硬的棱角就會刺穿隔膜,造成電池自放電。負極材料中的雜質元素同樣嚴重影響電池的電化學性能,有可能刺穿隔膜,造成安全隱患。
如何精*準高效確認磁性雜質的來源,以此優(yōu)化生產(chǎn)工藝呢?
ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類,以此判定是哪個生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問題。

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)性能特點:
1. 可根據(jù)不同的檢測需求,靈活定制自動分析流程
常見自動化分析方案僅是能譜軟件中的一項功能,可更改的參數(shù)很少,無法根據(jù)客戶的需求靈活調整,也無法滿足客戶特殊戶需求。ParticleX 是一套獨立運行的系統(tǒng),自動分析流程、雜質分類規(guī)則、報告生成樣式等都可以根據(jù)實際需求靈活定制,會給每個客戶定制一套針對性解決方案。
2. 長壽命 CeB6 晶體燈絲,確保自動化分析的流暢運行
常見電鏡燈絲材料為鎢,壽命較短(僅為100小時左右),并且燈絲后期會熔斷,導致分析過程立刻終止。CeB6 燈絲壽命超過1500小時(廠家質保),燈絲后期不會發(fā)生熔斷,確保了自動化分析的流暢運行。另外,CeB6 燈絲亮度更穩(wěn)定,因此其結果準確性也更高。
3. 多項設計,保證高通量快速運行
· 100 × 100 mm 大尺寸樣品臺,可一次放置多個樣品,一鍵自動全分析
· 三倉分離的真空設計,抽真空時間小于 1 分鐘,換樣速度極快
· 全自動電動馬達臺,保證位置移動的快速、精確
4. 軟硬件一體化設計,保證了軟硬件的協(xié)調工作
· 軟件可以充分調用硬件權限,并針對性優(yōu)化;
· 電鏡和能譜一體化設計,工作距離一致,避免頻繁調節(jié)電鏡或能譜工作距離,大大提升操作便捷性;
· 售后問題可以在一家解決,避免互相推諉。
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已咨詢1217次全自動清潔度分析
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已咨詢139次飛納電鏡
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已咨詢1278次全自動清潔度分析
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已咨詢331次清潔度分析儀
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已咨詢334次清潔度整體解決方案
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已咨詢1191次清潔度分析儀
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已咨詢643次清潔度輥磨前處理
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已咨詢245次粒度分析儀
GAIA 超分辨率點重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal.nl 推出的旗艦超分辨率共聚焦模塊,得益于專利的 REscan(重掃描技術),GAIA 超分辨率點重掃共聚焦顯微鏡僅需幾納瓦的功率即可實現(xiàn)超越衍射極限的深度成像。 1. 超分辨率成像:得益于專利的 REscan 技術,GAIA 超分辨率的實時分辨率可達 170 nm,解卷積后可達 120 nm。 2. 可變針孔:搭配 6 個電動可變針孔,使得設備在各種物鏡下均可達到完美共焦 3. 成像溫和:僅需幾納瓦的功率即可實現(xiàn)超越衍射極限的深度成像,成像溫和,適合長時間活細胞超分辨率成像。
1. 深層成像:無針孔串擾現(xiàn)象,更適合于深度成像,最高可達 900 μm 2. 超快成像:采用狹縫針孔的線性掃描,擁有媲美轉盤式共聚焦的掃描速度(>100 fps @ 3Kx3K) 3. 超大視場:遠高于傳統(tǒng)共聚焦的視場大小,最大支持 FN29 4. 可變針孔:唯一擁有 6 個電動可變針孔的高速共聚焦系統(tǒng),針孔在各種物鏡下均可達到完美共焦 5. 低光毒性:更低的光毒性和光損傷,適合長時間的活體成像
NL5+ 深層高速線重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal NL 推出的首款線重掃共聚焦模塊,采用狹縫針孔和 REscan(重掃描技術),擁有媲美轉盤式共聚焦的掃描速度,且圖片質量更好,成像深度更深,適用于高速、深層的 3D 成像,并顯著降低光毒性和光漂白。 1. 深層成像:無針孔串擾現(xiàn)象,更適合于深度成像 2. 超快成像:75 fps@2048x512 px,55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性:更低的光毒性和光損傷,適合長時間的活體成像
ICSPI REDUX 原子力顯微鏡是一款基于芯片化技術(AFM-on-a-chip)的臺式納米表征設備,集高自動化、快速掃描與易操作性于一體。系統(tǒng)無需復雜光學調節(jié)與激光對準,即可實現(xiàn)亞納米級分辨率的三維形貌成像與定量分析,廣泛適用于材料科學、半導體、生命科學及教學實驗等場景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 開發(fā)的一款芯片式原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)。該系統(tǒng)基于專利 CMOS-MEMS 技術,將傳統(tǒng) AFM 的掃描器、傳感器和執(zhí)行機構全部集成在一塊微型 MEMS 芯片上,實現(xiàn)了真正的小型化、自動化和便捷化的納米級測量解決方案。
ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動清潔度檢測設備。系統(tǒng)基于 SEM 與 EDS 技術,可自動識別并定量分析正負極材料中的金屬、磁性雜質顆粒,幫助精準溯源雜質來源,降低安全與一致性風險。系統(tǒng)支持無人值守運行,采用 3000 小時長壽命 CeB6 晶體燈絲與高通量設計,兼顧效率與穩(wěn)定性,并已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測方法與評價標準,支持上下游統(tǒng)一對標與質量控制。
Phenom Pure 標準版是一款專為高分辨率成像設計的智能臺式掃描電鏡,采用獨家 CeB? 長壽命燈絲,分辨率優(yōu)于 10 nm,具備 15 秒抽真空、30 秒成像的行業(yè)領先速度。設備支持升級至 Phenom Pro/ProX,可擴展至二次電子探測和能譜分析。憑借自動化硬件平臺、直覺式操作界面、防震防磁設計與極低的安裝要求,任何人都可在 30 分鐘內上手使用。Phenom Pure 以高成像質量、極致易用性和卓越穩(wěn)定性,成為科研、教學及工業(yè)質控中最佳性價比的臺式掃描電鏡選擇。
為質控與研發(fā)打造的自動化臺式掃描電鏡 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗艦級臺式掃描電鏡平臺,基于飛利浦—FEI—賽默飛近 80 年電鏡技術積淀打造。其穩(wěn)定可靠、易部署、自動化程度高,專為 生產(chǎn)質控、高通量檢測與研發(fā)場景 而設計。 大倉室設計,可容納 36 個樣品,1 分鐘完成裝樣到出圖,自動化、AI 分析、能譜一體化,3000h CeB6 燈絲,平均 5 年更換一次,適用于金屬、電子陶瓷、半導體、粉末、濾膜、電池材料等多行業(yè)。