介紹采用矢量圖方法，解析采用頻域熒光壽命測(cè)試技術(shù)，涉及壽命數(shù)值的擬合及意義 對(duì)比TCSPC，我們獲得的是直接的衰減曲線，通過對(duì)衰減曲線的直觀觀察，在對(duì)數(shù)縱坐標(biāo)情況下，直線或弧線，傾斜的差異，我們可以讀出壽命的個(gè)數(shù)或者是壽命平均值的差異但是對(duì)于頻域技術(shù)測(cè)試熒光壽命，我們獲得是相差以及模的變化，無法直接給出壽命的判斷，但是我們利用創(chuàng)造性的矢量圖，可以快速直接得到壽命的細(xì)節(jié)信息，包括指數(shù)個(gè)數(shù)壽命的數(shù)值大小為進(jìn)一步利用頻域技術(shù)的快速測(cè)試打下基礎(chǔ)，也是測(cè)試技術(shù)突破性進(jìn)步 激光共聚焦熒光成像系統(tǒng) FFS / FLIM HORIBA JY熒光壽命成像顯微系統(tǒng)-FLIM