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儀器網>產品中心> 國儀量子技術(合肥)股份有限公司>電子顯微鏡系列>高速掃描電子顯微鏡 HEM6000>掃描電子顯微鏡-量子高速掃描電子顯微鏡 HEM6000

掃描電子顯微鏡-量子高速掃描電子顯微鏡 HEM6000

面議 (具體成交價以合同協議為準)
國儀量子 HEM6000 安徽 合肥 2026-04-14 12:21:25
售全國 入駐:11年 等級:金牌 營業(yè)執(zhí)照已審核
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產品特點:

HEM6000是一款可實現跨尺度大規(guī)模樣品成像的高速掃描電子顯微鏡。

產品詳情:

高速掃描電子顯微鏡
HEM6000

HEM6000是一款可實現跨尺度大規(guī)模樣品成像的高速掃描電子顯微鏡。
采用高亮度大束流電子槍、高速電子偏轉系統(tǒng)、高壓樣品臺減速、動態(tài)光軸、浸沒式電磁復合物鏡等技術,實現了超快的數據采集和成像速度,同時保證了納米級分辨率。
面向應用場景的自動化操作流程設計,使得大面積的高分辨率圖像采集工作更高效、更智能。成像速度可達常規(guī)場發(fā)射掃描電鏡的5倍以上。


圖像采集速度
10 ns/pixel,2*100 M pixel/s
加速電壓
100 V~6 kV(減速模式) ; 6 kV~30 kV(非減速模式)
分辨率
1.3nm@3kV,SE;1.5nm@1kV,SE,0.9nm@30kV,STEM
視場大小
最 大視場1*1 mm2,高分辨微畸變視場64*64 um2
樣品臺精度
重復定位精度:X ±0.6 um;Y ±0.3 um


高速掃描驅動器

駐點時間10 ns/pixel,

最快采集速度2*100 M pixel/s

電子過濾系統(tǒng)

SE/BSE信號自由切換,

信號混合比例可調

全靜電高速偏轉系統(tǒng)

可實現高分辨大場模式,

4 nm像素點最 大視場達64*64 um2

樣品臺減速技術

降低入射電子落點電壓,

同時提高回收電子的收集效率

浸沒式電磁復合物鏡

物鏡磁場浸沒樣品

實現了低像差高分辨率


產品優(yōu)勢
高速自動化
全自動上下樣流程和采圖作業(yè),綜合成像速度優(yōu)于常規(guī)場發(fā)射掃描電鏡的 5 倍
大場低畸變
跟隨掃描場動態(tài)變化的光軸,實現了更低的場邊緣畸變
低壓高分辨
樣品臺減速技術,實現低落點電壓,同時保證高分辨率


f231d7f16b6e9d88a4a5f5d89a3ca90b_23-2.png



產品參數

關鍵參數分辨率1.3nm@3 kV,SE ; 1.5nm@1 kV,SE
1.9nm@ 3 kV, BSE; 2.3nm@ 1 kV, BSE
0.9nm@30kV,STEM
加速電壓100 V~6 kV(減速模式)
6 kV~30 kV(非減速模式)
放大倍率66~1,000,000x
電子槍類型高亮度肖特基場發(fā)射電子槍
物鏡類型浸沒式電磁復合物鏡
偏轉系統(tǒng)靜電偏轉器
樣品裝載系統(tǒng)真空系統(tǒng)全自動控制,無油真空系統(tǒng)
樣品監(jiān)控樣品倉監(jiān)控水平攝像頭; 換樣倉監(jiān)控垂直攝像頭
樣品最 大尺寸直徑4英寸
樣品臺類型電機驅動3軸樣品臺(*可選配壓電驅動樣品臺)
行程

X、Y軸:110mm;

Z軸:16mm;

重復定位精度

X軸:±0.6μm;

Y軸:±0.3μm;

換樣方式全自動控制
換樣時間<15 min
換樣倉清洗全自動控制等離子清洗系統(tǒng)
圖像采集與處理駐點時間10 ns/pixel
圖像采集速度2*100 M pixel/s
圖像大小24K*24K
探測器和擴展標配鏡筒內混合電子探測器
選配低角度背散射電子探測器
鏡筒內高角度背散射電子探測器

明場透射電子探測器

高角/中角/底角暗場透射電子探測器
壓電驅動樣品臺
高分辨大場模式
樣品倉等離子清洗系統(tǒng)
6英寸樣品裝載系統(tǒng)
主動減震臺
AI降噪;大圖拼接;三維重構
軟件語言中文
操作系統(tǒng)Windows
導航光學導航、手勢快捷導航
自動功能自動樣品識別、自動選區(qū)拍攝、自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散


  • 熱點應用
  • 儀器儀表

應用方案

  • 掃描電鏡在金屬材料失效分析領域的應用
    金屬材料是指具有光澤、延展性、容易導電、傳熱等性質的材料。一般分為黑色金屬和有色金屬兩種。黑色金屬包括鐵、鉻、錳等[1]。其中鋼鐵是基本的結構材料,稱為“工業(yè)的骨骼”。
    2025-03-26
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