掃描電子顯微鏡-量子場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM4000Pro
掃描電子顯微鏡-量子場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM4000Pro
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掃描電子顯微鏡-量子高速掃描電子顯微鏡 HEM6000
雙束顯微鏡-量子聚焦離子束電子束雙束顯微鏡 DB550
透射電子顯微鏡-量子場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 TH-F120
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
SEM4000Pro
SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì)，束流max可達(dá)200 nA，在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。標(biāo)配低真空模式，以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器，可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式，以及直觀的操作界面，讓您的分析工作倍感輕松。
豐富的擴(kuò)展能力
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
應(yīng)用案例
產(chǎn)品參數(shù)
| 關(guān)鍵參數(shù) | 分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV，SE |
| 2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa | ||
| 1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa | ||
| 加速電壓 | 200 V ~ 30 kV（35kV可選） | |
| 放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 電子槍類型 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
| 樣品室 | 低真空模式 | 最大180 Pa |
| 攝像頭 | 雙攝像頭 | |
| （光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控） | ||
| 行程 | X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mm | |
| T: -10°~+70°，R: 360° | ||
| 探測(cè)器和擴(kuò)展 | 標(biāo)配 | 倉(cāng)室內(nèi)電子探測(cè)器（ETD） |
| 低真空二次電子探測(cè)器（LVD） | ||
| 插入式背散射電子探測(cè)器（BSED 五分割，可選配） | ||
| 選配 | 能譜儀（EDS） | |
| 背散射衍射（EBSD） | ||
| 插入式掃描透射探測(cè)器（STEM） | ||
| 樣品交換倉(cāng)（4 寸 /8 寸） | ||
| 軌跡球&旋鈕板 | ||
| 軟件 | 語(yǔ)言 | 中文SEM軟件 |
| 操作系統(tǒng) | Windows | |
| 導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航、軌跡球（選配） | |
| 自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 |
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢437次高速掃描電子顯微鏡 HEM6000
報(bào)價(jià)：面議
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已咨詢2594次場(chǎng)發(fā)射
報(bào)價(jià)：￥2000000
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已咨詢2897次透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM )
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已咨詢1206次掃描電子顯微鏡
報(bào)價(jià)：￥950000
已咨詢371次二手光學(xué)儀器
S-4800型高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（簡(jiǎn)稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場(chǎng)，物鏡為半浸沒(méi)式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒(méi)式冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場(chǎng)電鏡SU8000系列高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào)，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測(cè)；結(jié)合選配的STEM探測(cè)器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理，使得著陸電壓在1KV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20％。另外，最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場(chǎng)電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬(wàn)倍提高到了800萬(wàn)倍。除此之外，為了能更好的應(yīng)對(duì)不同樣品的測(cè)試和保持并發(fā)揮出高性能，還對(duì)用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，簡(jiǎn)單化，從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統(tǒng)，在進(jìn)行獲得樣品表面像的時(shí)候，還可以對(duì)樣品的某個(gè)定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例，進(jìn)行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過(guò)簡(jiǎn)單的操作即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集?？捎糜阡撹F等工業(yè)材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外，SE系列包括4種型號(hào)（兩種類型，兩個(gè)等級(jí)），滿足眾多領(lǐng)域的測(cè)試需求。用戶可以根據(jù)實(shí)際用途（如微觀結(jié)構(gòu)控制：用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產(chǎn)品品質(zhì)）選擇適合的產(chǎn)品。
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ，ZLGemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，超高的束流穩(wěn)定性，zhuo越的低電壓性能，In Lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察，ding級(jí)X射線分析設(shè)計(jì)，便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì)，超大空間，多接口，升級(jí)靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM，利用曝光抗蝕劑，采用電子束直接曝光，可在各種襯底材料表面直寫各種圖形，圖形結(jié)構(gòu)（Z小線寬為10nm），是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件，光子晶體，低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。
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