EVG850 TB自動化臨時鍵合系統(tǒng)
EVG805解鍵合晶圓鍵合機
EVG850 DB自動解鍵合系統(tǒng)
EVG805-薄晶圓解鍵合系統(tǒng)
EVG805-薄晶圓解鍵合系統(tǒng)
EVG850 TB-自動化臨時鍵合系統(tǒng) EVG鍵合機
應(yīng)用:全自動將臨時晶圓晶圓鍵合到剛性載體上
一、簡介
全自動的臨時鍵合系統(tǒng)(晶圓鍵合機)可在一個自動化工具中實現(xiàn)整個臨時鍵合過程-從臨時鍵合劑的施加,烘焙,將設(shè)備晶圓與載體晶圓的對準(zhǔn)和鍵合開始。與所有EVG的全自動工具(晶圓鍵合機)一樣,設(shè)備布局是模塊化的,這意味著可以根據(jù)特定過程對吞吐量進行優(yōu)化。可選的在線計量模塊允許通過反饋回路進行全過程監(jiān)控和參數(shù)優(yōu)化。
由于EVG的開放平臺,因此可以使用不同類型的臨時鍵合粘合劑,例如旋涂熱塑性塑料,熱固性材料或膠帶。
EVG850 TB-自動化臨時鍵合系統(tǒng) EVG鍵合機
二、EVG鍵合機特征
開放式膠粘劑平臺
各種載體(硅,玻璃,藍寶石等)
適用于不同基板尺寸的橋接工具功能
提供多種裝載端口選項和組合
程序控制系統(tǒng)
實時監(jiān)控和記錄所有相關(guān)過程參數(shù)
*集成的SECS / GEM接口
可選的集成在線計量模塊,用于自動反饋回路
三、EVG鍵合機技術(shù)數(shù)據(jù)
晶圓直徑(基板尺寸):長300毫米,可能有超大的托架、不同的基材/載體組合
組態(tài):
外套模塊
帶有多個熱板的烘烤模塊
通過光學(xué)或機械對準(zhǔn)來對準(zhǔn)模塊
鍵合模塊
四、選件
在線計量
ID閱讀
高形貌的晶圓處理
翹曲的晶圓處理
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已咨詢422次晶圓鍵合機
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UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模塊;輪廓、量測和檢查模塊。
系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測,包括TTV,Bow,Warp,TIR等參數(shù),可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測,精度達國際水平,產(chǎn)能和經(jīng)濟效益遠超國內(nèi)外產(chǎn)品。
系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù),是國內(nèi)可以實現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動檢測的系統(tǒng)。
分析磁膜性能對磁傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要,WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的自動晶圓探針集成,以表征成品器件或測試結(jié)果(包括橋接配置)的磁性能。
分析磁性薄膜和傳感器的性能對磁性傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要,ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結(jié)合了ISI專有的測量電子設(shè)備、電源、探針卡、控制器和磁鐵,非常適合執(zhí)行這項任務(wù)。
SHB自1976年以來,Instruments一直在生產(chǎn)一系列行業(yè)主導(dǎo)的磁性測量系統(tǒng)。與其他競爭產(chǎn)品不同的是,臺面系列采用最新的全數(shù)字電路和信號處理技術(shù)進行測量。
美國Microsense電容式位移傳感器*非接觸式電容式微位移測量—準(zhǔn)確的電子感應(yīng)技術(shù), 無損樣品測量。
光學(xué)粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進行耗時粗糙度計算。利用角分辨光散射技術(shù)測量晶圓表面梯度角計算的粗糙度,以每秒2000次高速掃描全晶圓表面上面粗糙度,為目前業(yè)界最快全晶圓粗糙度測量系統(tǒng),可以依各種樣品形狀尺寸客制化量測探頭以及平臺解決方案。