Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡
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Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡
KLA P-170全自動(dòng)探針式表面輪廓儀
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品介紹：
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學(xué)分析的自動(dòng)化解決方案。它旨在以直觀和自動(dòng)化的方式通過力譜和力圖研究多種或大型樣品上的材料（例如細(xì)胞，組織，支架，水凝膠和聚合物）的納米力學(xué)性能。對于多個(gè)樣品或者大起伏樣品有優(yōu)勢。
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：
從樣品安裝到得出結(jié)果只需幾個(gè)步驟
高起伏樣品或多個(gè)樣品自動(dòng)納米機(jī)械性能分析
針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度
智能軟件自主處理測量需求
樣品高度起伏可達(dá)5mm，力譜曲線范圍Z向可達(dá) 100μm
專用分析軟件可用于大批量與復(fù)雜數(shù)據(jù)的輕松比對
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品優(yōu)勢：
對大型或多個(gè)樣品的納米力學(xué)分析
ANA軟件中采用了一種直觀的基于工作流的實(shí)驗(yàn)過程，系統(tǒng)的硬件元素和電機(jī)驅(qū)動(dòng)，以及精心設(shè)計(jì)和控制算法，三者結(jié)合是Flex-ANA系統(tǒng)的標(biāo)志。只需單擊具有覆蓋整個(gè)可訪問的32 mm×32 mm樣品區(qū)域的大視場的概覽圖像，即可定義大型或多個(gè)樣品的測量位置。 系統(tǒng)可輕松克服高達(dá)5 mm的高度差異，并可執(zhí)行和使用多種類型的納米力學(xué)測量、分析和模式！
輕松處理要求苛刻的樣品
在實(shí)驗(yàn)過程中，ANA 系統(tǒng)協(xié)調(diào)掃描頭和電動(dòng) XYZ 平移臺(tái)（范圍：32 mm × 32 mm × 5 mm）的移動(dòng)，以應(yīng)對較大的樣品高度變化。該系統(tǒng)可以選擇配備額外的 100μm Z 壓電陶瓷，以擴(kuò)展力譜范圍。因此，可以輕松處理宏觀和微觀粗糙度分別在幾毫米和幾微米范圍內(nèi)的樣品，以及柔軟和粘稠的樣品。
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡測量原理：
Nanosurf Flerx-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡通過在掃描過程中對每個(gè)像素點(diǎn)自動(dòng)執(zhí)行一次力譜測量（力-距離曲線），并從中提取局部力學(xué)參數(shù)，最終生成與形貌圖精確匹配的定量力學(xué)性質(zhì)分布圖，從而在納米尺度上同時(shí)揭示樣品的表面形貌和力學(xué)異質(zhì)性。這大大提高了傳統(tǒng)單點(diǎn)力譜的效率和空間分辨率。
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡元件：
FlexAFM掃描頭
C3000控制器
ATS 204自動(dòng)移動(dòng)臺(tái)
主動(dòng)式隔振臺(tái)
5MP輔助光學(xué)相機(jī)
高配計(jì)算機(jī)用于數(shù)據(jù)采集和分析
Flex-ANA測量與分析數(shù)據(jù)
可選100μm Z-actuator
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡常見工業(yè)應(yīng)用：
細(xì)胞 | 組織 | 支架 | 水凝膠 | 聚合物等 |
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)：
范圍（X/Y/Z）： | 32/32/5mm | 可選δz范圍： | 100μm |
定位精度(X/Y/Z/δZ): | <1/<1/<1/<0.001μm | 重新定位精度(X/Y/Z): | <2μm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡測量圖：
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在納米尺度研究領(lǐng)域，瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振（CleanDrive）、直驅(qū)掃描（Direct Drive）和全電動(dòng)控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新，DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸，為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺(tái)。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡，適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能，并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究，或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級(jí)配件，具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力，尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性，是全球眾多科研人員的理想選擇。此外，它還能與外部硬件集成，擴(kuò)展研究功能。對于生命科學(xué)研究，F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù)，F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡，專為工業(yè)級(jí)高精度與超大樣品而設(shè)計(jì)，將科研級(jí)分辨率與工業(yè)兼容性深度融合，成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強(qiáng)有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨(dú)特的 AFM 解決方案，可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭，采用針尖掃描的設(shè)計(jì)方式，無論樣品重量如何，都能實(shí)現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器，可快速精確地控制掃描過程，穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動(dòng)的影響。同時(shí)，該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動(dòng)軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制，滿足您的特定樣品測試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級(jí)表面粗糙度測量，晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的，對于先進(jìn)的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說，識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級(jí)缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別，通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。
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