具有OmniRing的第二代三錐接口的新型設(shè)計專為NexION 5000 ICP-MS而研發(fā)，兼顧了靈敏度和穩(wěn)定性。該設(shè)計以三錐接口幾何 結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)，基于簡單gao效的OmniRing技術(shù)提供了獨特的應對空 間電荷效應的解決方案。該設(shè)計從ICP-MS理想接口的諸多特性著 手，通過減少離子流提高了傳輸效率，與此同時，還以受控的方式 實現(xiàn)了離子通過接口后的加速，而不會將高能離子傳輸?shù)较掠坞x子 光學系統(tǒng)中。結(jié)果是在沒有提高儀器本底水平的情況下，大大提高了分析物的信號強度。通過這種新型接口設(shè)計，能夠在強健等離子 體條件下，直接以亞ppt級的背景等效濃度對復雜基質(zhì)進行分析。 除了提高靈敏度，該接口設(shè)計還使NexION 5000 ICP-MS在處理 具有挑戰(zhàn)性的基體時，彰顯出wu與倫比的穩(wěn)定性。這要歸功于三級 壓降系統(tǒng)，以及將那些如錐和離子透鏡等易于樣品沉積和離子濺射 的表面進行盡量小化處理的設(shè)計。