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布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8
布魯克原子力顯微鏡Dimension Edge
快速/精確/高分辨
智能掃描成像技術(shù),自動(dòng)優(yōu)化成像參數(shù),輕松獲得高分辨圖像
5百萬像素的高分辨率相機(jī)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程平臺,提供快速樣品導(dǎo)航和高效多點(diǎn)測量
從大范圍掃描到最高分辨檢測的無縫過渡可在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果
快速精確,性能ZY的AFM
ZG的傳感器設(shè)計(jì)有閉環(huán)的精度和開環(huán)的噪音水平
顯著地降低噪音和漂移,在大樣品臺AFM上實(shí)現(xiàn)了小樣品臺AFM的成像性能
顯微鏡和電路的設(shè)計(jì)保證了高成像性能和價(jià)格適中,是性價(jià)比最高的閉環(huán)Dimension系列AFM
實(shí)現(xiàn)全部測試需求
開放式平臺設(shè)計(jì)可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求
新儀器的設(shè)計(jì)和軟件利用了最完備的Bruke AFM掃描模式和檢測技術(shù),滿足最前沿的應(yīng)用需求
內(nèi)置的信號路由模塊,幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求,自定義檢測模式
操作簡便
Dimension Edge的大樣品臺不僅馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可編程控制、自動(dòng)多區(qū)域測量的特性,還可以將各種類型和尺寸的樣品,直接放置在AFM掃描器下進(jìn)行檢測,大大節(jié)省制樣時(shí)間。
使用Dimension Edge AFM從第一次接觸圖形界面,通過可視狀態(tài)反饋,選擇ZJ操作模式到使用活動(dòng)窗口的相關(guān)幫助,都伴隨有線性程序設(shè)置的邏輯化工作流程。
選擇Dimension Edge平臺作為您的研究工具,樣品的檢測結(jié)果,工作效率,都將超乎您的想象。

上傳人:上海爾迪儀器科技有限公司
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已咨詢1737次原子力顯微鏡
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在納米尺度研究領(lǐng)域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅(qū)掃描(Direct Drive)和全電動(dòng)控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能,并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴(kuò)展研究功能。對于生命科學(xué)研究,F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù),F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設(shè)計(jì),將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強(qiáng)有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨(dú)特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設(shè)計(jì)方式,無論樣品重量如何,都能實(shí)現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動(dòng)的影響。同時(shí),該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動(dòng)軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制,滿足您的特定樣品測試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對于先進(jìn)的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識別,通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。