布魯克原子力顯微鏡Dimension Icon
布魯克原子力顯微鏡Dimension FastScan
布魯克原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP
布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8
布魯克原子力顯微鏡Dimension Edge

·高分辨定量成像性能
·150Hz快速掃描助力動態(tài)變化過程研究
·與最精密先進光學(xué)顯微鏡的結(jié)合
·新一代基于工作流程的軟件革新
·靈活易用的模塊化設(shè)計與大量模塊的拓展性
高分辨率、穩(wěn)定性與準確度
S次將高分辨率、快速掃描與100μm大范圍掃描集成于一套系統(tǒng)之中。全新的 Vortis? 2控制器帶來了數(shù)據(jù)準確度可以輕松進行海量大數(shù)據(jù)處理,與超分辨率顯微鏡平臺集成。
快速掃描模式,捕捉樣品動態(tài)
·Nanowizard 4 XP可以實現(xiàn)150Hz的線掃描速度。Vortis?控制器使具有100μm掃描器的系統(tǒng)仍然具有帶寬、準確的力控制以及高速的反饋響應(yīng),并與先進快速光學(xué)同步測量無縫整合。
·允許在最大16.5μm的高度變化范圍內(nèi)快速響應(yīng)。
·讓在幾秒內(nèi)獲取活細胞或者單分子的高質(zhì)量數(shù)據(jù)以展示活細胞的天然動態(tài)過程成為可能,給實時動態(tài)實驗帶來速度及準確性。
全面革新的V7控制軟件
全新基于工作流的軟件設(shè)計加速了科學(xué)產(chǎn)出,基于工作流程和任務(wù)導(dǎo)向的工作界面會組織實驗每個步驟所需的信息,并通過提供智能幫助以及校準與設(shè)置信息的反饋,來引導(dǎo)用戶設(shè)定所需實驗。
直觀便捷的數(shù)據(jù)獲取方式可以幫助即使有很少AFM使用經(jīng)驗的用戶都可以自信地獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
力譜測量
QI?高級模式基于真實力曲線,為從單分子到活細胞的應(yīng)用提供驚人的速度和分辨率。定量數(shù)據(jù)允許精確、快速分析力學(xué)或生化相互作用,先進的批量大數(shù)據(jù)處理功能包含多種模量擬合模型,可通過接觸點成像( Contact Point Imaging,CPI?)顯示零接觸力表面形貌。

上傳人:上海爾迪儀器科技有限公司
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在納米尺度研究領(lǐng)域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅(qū)掃描(Direct Drive)和全電動控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能,并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴展研究功能。對于生命科學(xué)研究,F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用,實現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù),F(xiàn)lexAFM進一步解鎖了單細胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設(shè)計,將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設(shè)計方式,無論樣品重量如何,都能實現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動的影響。同時,該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動軸或旋轉(zhuǎn)軸進行更復(fù)雜的定制,滿足您的特定樣品測試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動缺陷識別,通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。