在同級產(chǎn)品中，Park XE7 能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于原子力顯微鏡架構(gòu)，即立的 XY 軸和 Z 軸柔性掃描器，XE7 能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park 的True Non-Contact? 模式可以使探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

    Park XE7 擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7 能夠全力推動研究生產(chǎn)力的提高。

    Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact? 模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端，并且它配有多功能的掃描模式，兼容性較為佳，讓您可隨時(shí)升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。

    特的產(chǎn)品特點(diǎn)

1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3”點(diǎn)擊即可實(shí)現(xiàn)成像

2）Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式，更優(yōu)越的力學(xué)形貌成像及各種電學(xué)測試

3）強(qiáng)大的內(nèi)置集成軟件系統(tǒng)，自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

    技術(shù)特點(diǎn)

1. XY 軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強(qiáng)度壓電疊堆，可在保持平面外運(yùn)動少的情況下，實(shí)現(xiàn)高正交運(yùn)動以及納米級樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計(jì)的；

2. Z 軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12 μm增至40μm（選購遠(yuǎn)距離 Z 軸掃描器）

3. 燕尾式軌道設(shè)計(jì)，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。

4. 在手動 XY 軸樣品臺的控制下，樣品的測量定位變得簡單。XY 軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm；

5. 原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計(jì)和高速處理單元，Park XE 電子控制器成功實(shí)現(xiàn)了True Non-Contact? 模式，這是納米級成像和電壓電流測量的必要選擇。

    主要功能模式

    標(biāo)準(zhǔn)成像，力學(xué)測試、機(jī)械性能，化學(xué)性能、電性能，光性能（TERS）、熱性能等。

        Park XE7不同的選項(xiàng)適合于多種的研究，以下對石墨烯不同性能的測試：

    納米材料的光譜學(xué)研究