EVG620 NT掩模對準光刻機系統(tǒng)
EVG720自動化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統(tǒng)
HERCULES量產(chǎn)型光刻機系統(tǒng)
EVG6200 NT掩模對準光刻系統(tǒng)
EVG610納米壓印光刻系統(tǒng)
介紹:
該設(shè)備支持多種標準光刻工藝,例如真空,軟,硬和接近曝光模式,并可選擇背面對準。此外,該系統(tǒng)還為多功能配置提供了附加功能,包括鍵對準和納米壓印光刻(NIL)。
EVG610提供快速的處理和重新安裝工具,以改變用戶需求,光刻和NIL之間的轉(zhuǎn)換時間僅為幾分鐘。其先進的多用戶概念可以適應(yīng)從初學者到專家級別的所有需求,因此使其成為大學和研發(fā)應(yīng)用程序的理想選擇。

圖1 微鏡頭

?圖2 納米壓印結(jié)果(100納米分辨率)
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已咨詢511次UV-NIL/SmartNIL紫外壓印
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已咨詢505次UV-NIL/SmartNIL紫外壓印
報價:¥1500000
已咨詢3259次掩模對準曝光機
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已咨詢568次光刻機
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已咨詢392次UV-NIL/SmartNIL紫外壓印
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已咨詢744次奧地利EVG納米壓印機、光刻機、鍵合機
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已咨詢1476次奧地利EVG納米壓印機、光刻機、鍵合機
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已咨詢1085次奧地利EVG納米壓印機、光刻機、鍵合機
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模塊;輪廓、量測和檢查模塊。
系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測,包括TTV,Bow,Warp,TIR等參數(shù),可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測,精度達國際水平,產(chǎn)能和經(jīng)濟效益遠超國內(nèi)外產(chǎn)品。
系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù),是國內(nèi)可以實現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動檢測的系統(tǒng)。
分析磁膜性能對磁傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要,WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標準的自動晶圓探針集成,以表征成品器件或測試結(jié)果(包括橋接配置)的磁性能。
分析磁性薄膜和傳感器的性能對磁性傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要,ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結(jié)合了ISI專有的測量電子設(shè)備、電源、探針卡、控制器和磁鐵,非常適合執(zhí)行這項任務(wù)。
SHB自1976年以來,Instruments一直在生產(chǎn)一系列行業(yè)主導(dǎo)的磁性測量系統(tǒng)。與其他競爭產(chǎn)品不同的是,臺面系列采用最新的全數(shù)字電路和信號處理技術(shù)進行測量。
美國Microsense電容式位移傳感器*非接觸式電容式微位移測量—準確的電子感應(yīng)技術(shù), 無損樣品測量。
光學粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進行耗時粗糙度計算。利用角分辨光散射技術(shù)測量晶圓表面梯度角計算的粗糙度,以每秒2000次高速掃描全晶圓表面上面粗糙度,為目前業(yè)界最快全晶圓粗糙度測量系統(tǒng),可以依各種樣品形狀尺寸客制化量測探頭以及平臺解決方案。