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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司
認(rèn)證:工商信息已核實(shí)
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- 品牌分類
- EVG光刻機(jī)
- EVG鍵合機(jī)
- CMP晶圓減薄拋光
- 晶圓關(guān)鍵尺寸測量
- EVG納米壓印機(jī)
- 膜厚儀
- 防震臺
- 晶圓厚度測量
- 應(yīng)力測量
- 3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
- 光學(xué)鏡頭對準(zhǔn)系統(tǒng)(定心儀)
- 片電阻測量儀
- 晶圓缺陷檢測
- 等離子去膠
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- 臺階儀
- 4D動態(tài)激光干涉儀
- 光學(xué)粗糙度測試儀
- 電容式位移傳感器
- 磁性材料檢測設(shè)備
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- ( 珠海)寶豐堂
- ( 浦東新區(qū))其它品牌
- ( 日本)列真株式會社
- ( 美國)美國德康
- ( 德國)德國Stefan Mayer
- ( 德國)Opto Alignment
- ( 希臘)希臘ThetaMetrisis
- ( 鎮(zhèn)江)鎮(zhèn)江超納
- ( 美國)美國MicroSense
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儀企號
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FSM 500TC高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備價(jià)格:面議- 品牌:美國FSM
- 型號:FSM 500TC
- 產(chǎn)地:美洲 美國
美國FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備:美國FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備。
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FSM 128薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備價(jià)格:面議- 品牌:美國FSM
- 型號:FSM 128
- 產(chǎn)地:美洲 美國
美國FSM 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備:在襯底鍍上不同的薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣,以及不同的材料不同溫度下特性不一樣, 所以會引起應(yīng)力。 如應(yīng)力太大會引起薄膜脫落, 引致組件失效或可靠性不佳的問題...















