日立掃描探針顯微鏡控制器
AMICS自動(dòng)化礦物學(xué)分析系統(tǒng) (MLA)
TM系列專用能譜儀(EDS) Quantax75
TM系列專用能譜儀(EDS)AZtec系列
光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM
標(biāo)準(zhǔn)配備改良過的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能,以及簡(jiǎn)單明了的圖形用戶界面。因此,即使是剛剛接觸SPM的人,或者測(cè)量某種全新的樣品時(shí),也能取得具有較高再現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。
· 圖標(biāo)說明
*RealTune是日立高新技術(shù)科學(xué)股份公司在日本的注冊(cè)商標(biāo)。
· 特點(diǎn)
1. RealTune®II zui新的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能
· 提升獨(dú)有的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能!此系列開發(fā)出一種全新的處理方法,可預(yù)測(cè)并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù)。其通過對(duì)樣品表面的形狀、掃描區(qū)域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合評(píng)價(jià),高效率、高精度地調(diào)整成zui合適的測(cè)量條件。
· 通過新增加了振幅調(diào)整功能的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能(RealTune®II),可實(shí)現(xiàn)一鍵(One Click)測(cè)量。原來需要熟練操作的測(cè)量,現(xiàn)在沒有經(jīng)驗(yàn)的操作員也可以簡(jiǎn)單地操作。
· 也可用于很難調(diào)整參數(shù)的樣品。

【實(shí)例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】
此前的方法此種樣品需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行精細(xì)的調(diào)整,操作困難,并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法自動(dòng)調(diào)整成zui合適的參數(shù),可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的前提下進(jìn)行測(cè)量。

【實(shí)例2】用于有機(jī)薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜(并五苯多結(jié)晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學(xué)北村研究室】
此前的方法此款樣品表面容易損壞,易產(chǎn)生皺痕、step的輪廓也不明確。
新處理方法自動(dòng)調(diào)整為zui合適的參數(shù),穩(wěn)定地測(cè)量分子級(jí)別上的step結(jié)構(gòu)。

2. 新圖形用戶界面(Graphical Use Interface)
簡(jiǎn)單菜單
· 簡(jiǎn)單明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的顯示信息,無論是無經(jīng)驗(yàn)者還是熟練操作員,都能夠方便地操作!
· 可通過選項(xiàng)卡在測(cè)量及分析作業(yè)領(lǐng)域之間切換,畫面簡(jiǎn)潔明了??捎行У貜V泛使用。


3. 3D覆蓋功能
能夠?qū)悠沸螤顖D像及物理性質(zhì)圖像重合起來顯示,并能進(jìn)一步構(gòu)畫出3D圖像,可以通過視覺形象地感受樣品的物理性質(zhì)的分布。

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能
具備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣化的分析功能。

5. 小型化設(shè)計(jì)
外形更輕便、更小型化,適合各種放置場(chǎng)所。220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg

報(bào)價(jià):面議
已咨詢805次原子力顯微鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢586次原子力顯微鏡( AFM )
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6883次表面成像
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6458次化學(xué)科學(xué)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢616次臺(tái)式電子順磁共振波譜儀
報(bào)價(jià):¥2000000
已咨詢310次SPM/AFM 掃描探針原子力顯
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1738次磁學(xué)測(cè)量
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2914次掃描探針顯微鏡SPM
在納米尺度研究領(lǐng)域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅(qū)掃描(Direct Drive)和全電動(dòng)控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺(tái)。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能,并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級(jí)配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長(zhǎng)處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴(kuò)展研究功能。對(duì)于生命科學(xué)研究,F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù),F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級(jí)高精度與超大樣品而設(shè)計(jì),將科研級(jí)分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強(qiáng)有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨(dú)特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設(shè)計(jì)方式,無論樣品重量如何,都能實(shí)現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動(dòng)的影響。同時(shí),該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動(dòng)軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制,滿足您的特定樣品測(cè)試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測(cè)量敏感度以及原子力顯微鏡測(cè)量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測(cè)量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級(jí)表面粗糙度測(cè)量,晶圓的表面粗糙度對(duì)于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對(duì)于先進(jìn)的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對(duì)晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對(duì)于工程師來說,識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級(jí)缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別,通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測(cè)效率。