捷克泰思肯 TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 TESCAN VEGA COMPACT 鎢燈絲掃描電鏡
捷克泰思肯 集成礦物分析儀 TIMA-X FEG(LM)
TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術(shù)優(yōu)點(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時保持著zui高的性價比。
MIRA 的設(shè)計適用于各種各樣的SEM應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用,例如:EBSD、WDX等分析。
現(xiàn)代電子光路
高亮度肖特基電子槍可獲得高分辨率/高電流/低噪音圖像
獨(dú)特的三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics?)設(shè)計提供了多種工作與顯示模式
獨(dú)特的中間鏡的作用就如同軟件“光闌轉(zhuǎn)換器”,它以電磁方式有效地改變物鏡光闌
結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing?),可模擬和優(yōu)化電子束
可選的In-Beam探頭可獲得特高分辨率圖像
電鏡的全自動設(shè)置
成像速度快
使用3維電子束技術(shù),實時得到立體圖像,三維導(dǎo)航
維修簡單
現(xiàn)在保持電鏡處在優(yōu)秀的狀態(tài)很簡單,只需要很短的停機(jī)時間。每個細(xì)節(jié)設(shè)計得很仔細(xì),使得儀器的效率zui大化,操作zui簡化。
自動操作
設(shè)備的特點包括了自動設(shè)置和眾多自動操作。除此之外,電鏡還有樣品臺自動導(dǎo)航與自動分析 程序,能明顯減少操作員的操作時間。通過內(nèi)置腳本語言(Python)可進(jìn)入軟件的大多數(shù)功能,包括顯微鏡的控制、樣品臺的控制、圖像采集、處理與分析。通過腳本語言用戶還可以編程其自己的自動操作程序。
用戶界面友好的軟件與軟件工具
多語言操作界面
多用戶界面(包括了EasySEMTM模式)不同賬戶的權(quán)利使常規(guī)分析過程更快
圖片管理,報告生成
內(nèi)置的系統(tǒng)檢查與系統(tǒng)診斷
網(wǎng)絡(luò)操作與遠(yuǎn)程進(jìn)入/診斷
模塊化軟件體系結(jié)構(gòu)
標(biāo)準(zhǔn)軟件包括了測量、圖像處理、對象區(qū)域,等模塊
可選的軟件和包括顆粒度分析標(biāo)準(zhǔn)版/專家版、3維表面重建,等模塊
MIRA AMU
特大樣品室定制版
注:對于yi療器械類產(chǎn)品,請先查證核實企業(yè)經(jīng)營資質(zhì)和yi療器械產(chǎn)品注冊證情況
免費(fèi)上門安裝:是
保修期:1年
是否可延長保修期:是
保內(nèi)維修承諾:免費(fèi)維修,更換零部件
報修承諾:8小時響應(yīng),3天內(nèi)到達(dá)現(xiàn)場
免費(fèi)儀器保養(yǎng):3月1次
免費(fèi)培訓(xùn):免費(fèi)上海應(yīng)用zhong心培訓(xùn)
現(xiàn)場技術(shù)咨詢:有
報價:面議
已咨詢5474次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
報價:面議
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報價:¥8000000
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報價:面議
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已咨詢89次TESCAN 掃描電鏡
S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠贰-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測器設(shè)計上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測;結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機(jī)型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外,為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能,還對用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進(jìn)行獲得樣品表面像的時候,還可以對樣品的某個定點位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進(jìn)行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領(lǐng)域的測試需求。用戶可以根據(jù)實際用途(如微觀結(jié)構(gòu)控制:用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產(chǎn)品品質(zhì))選擇適合的產(chǎn)品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設(shè)計,便越操作系統(tǒng)設(shè)計,超大空間,多接口,升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件,光子晶體,低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。