Pharos STEM 臺式生物掃透電鏡
Pharos STEM 臺式生物掃透電鏡
適合納米材料研究的高分辨掃描透射電鏡一體機(jī) Pharos STEM
適合組織切片病理學(xué)研究掃描透射電鏡 Phenom STEM
適合組織切片病理學(xué)研究掃描透射電鏡 Phenom STEM
適合納米材料研究的高分辨掃描透射電鏡一體機(jī) Pharos STEM
Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和卓越的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶， FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。
作為臺式 Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，減少了電子束對樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像，且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
BF 像：主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度（Contrast）的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚，原子序數(shù)（Z）越大，穿透樣品的電子越少，圖像就越暗，因此 BF 像對輕元素（Z 較?。┍容^敏感。
DF 像：主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號。
HAADF 像：主要是接收高角度的非相干散射電子信號。原子序數(shù)（Z）越大，散射角也越大，原子核對入射電子的散射作用越強(qiáng)，圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。
三種成像模式各有特點(diǎn)，具有不同的成像優(yōu)勢，可以根據(jù)樣品情況搭配使用，成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。
案例一：多壁碳納米管及其催化劑
案例二：煙草花葉病毒
煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
對比掃描電鏡的背散射電子圖像（BSE），桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素（Z 較?。?，輕元素散射作用較弱，因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細(xì)節(jié)。
而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球，電子較難穿透，BF 像上相對較暗。在 DF 模式下，密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射，因此在 DF 像上相對較亮。
規(guī)格參數(shù)：
系統(tǒng)兼容：Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡
樣品兼容：ø 3mm TEM 載網(wǎng)（夾具固定）
成像時間：< 40 s*
成像模式：BF、DF、HAADF、 自定義**
成像工作流程：固定的 WD，設(shè)置最優(yōu)的探測器 ，完全集成的 UI
真空度：0.1, 10 & 60 Pa
分辨率：優(yōu)于 1 nm
* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時間
** STEM 具有 11 分割探測器，用戶可以對其進(jìn)行自定義選擇
具體詳情以Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡產(chǎn)品資料為準(zhǔn)
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GAIA 超分辨率點(diǎn)重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal.nl 推出的旗艦超分辨率共聚焦模塊，得益于專利的 REscan（重掃描技術(shù)），GAIA 超分辨率點(diǎn)重掃共聚焦顯微鏡僅需幾納瓦的功率即可實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的深度成像。 1. 超分辨率成像：得益于專利的 REscan 技術(shù)，GAIA 超分辨率的實(shí)時分辨率可達(dá) 170 nm，解卷積后可達(dá) 120 nm。 2. 可變針孔：搭配 6 個電動可變針孔，使得設(shè)備在各種物鏡下均可達(dá)到完美共焦 3. 成像溫和：僅需幾納瓦的功率即可實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的深度成像，成像溫和，適合長時間活細(xì)胞超分辨率成像。
1. 深層成像：無針孔串?dāng)_現(xiàn)象，更適合于深度成像，最高可達(dá) 900 μm 2. 超快成像：采用狹縫針孔的線性掃描，擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度（>100 fps @ 3Kx3K） 3. 超大視場：遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)共聚焦的視場大小，最大支持 FN29 4. 可變針孔：唯一擁有 6 個電動可變針孔的高速共聚焦系統(tǒng)，針孔在各種物鏡下均可達(dá)到完美共焦 5. 低光毒性：更低的光毒性和光損傷，適合長時間的活體成像
NL5+ 深層高速線重掃共聚焦顯微鏡是 Confocal NL 推出的首款線重掃共聚焦模塊，采用狹縫針孔和 REscan（重掃描技術(shù)），擁有媲美轉(zhuǎn)盤式共聚焦的掃描速度，且圖片質(zhì)量更好，成像深度更深，適用于高速、深層的 3D 成像，并顯著降低光毒性和光漂白。 1. 深層成像：無針孔串?dāng)_現(xiàn)象，更適合于深度成像 2. 超快成像：75 fps@2048x512 px，55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性：更低的光毒性和光損傷，適合長時間的活體成像
ICSPI REDUX 原子力顯微鏡是一款基于芯片化技術(shù)（AFM-on-a-chip）的臺式納米表征設(shè)備，集高自動化、快速掃描與易操作性于一體。系統(tǒng)無需復(fù)雜光學(xué)調(diào)節(jié)與激光對準(zhǔn)，即可實(shí)現(xiàn)亞納米級分辨率的三維形貌成像與定量分析，廣泛適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)及教學(xué)實(shí)驗(yàn)等場景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 開發(fā)的一款芯片式原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）。該系統(tǒng)基于專利 CMOS-MEMS 技術(shù)，將傳統(tǒng) AFM 的掃描器、傳感器和執(zhí)行機(jī)構(gòu)全部集成在一塊微型 MEMS 芯片上，實(shí)現(xiàn)了真正的小型化、自動化和便捷化的納米級測量解決方案。
ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動清潔度檢測設(shè)備。系統(tǒng)基于 SEM 與 EDS 技術(shù)，可自動識別并定量分析正負(fù)極材料中的金屬、磁性雜質(zhì)顆粒，幫助精準(zhǔn)溯源雜質(zhì)來源，降低安全與一致性風(fēng)險。系統(tǒng)支持無人值守運(yùn)行，采用 3000 小時長壽命 CeB6 晶體燈絲與高通量設(shè)計(jì)，兼顧效率與穩(wěn)定性，并已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測方法與評價標(biāo)準(zhǔn)，支持上下游統(tǒng)一對標(biāo)與質(zhì)量控制。
Phenom Pure 標(biāo)準(zhǔn)版是一款專為高分辨率成像設(shè)計(jì)的智能臺式掃描電鏡，采用獨(dú)家 CeB? 長壽命燈絲，分辨率優(yōu)于 10 nm，具備 15 秒抽真空、30 秒成像的行業(yè)領(lǐng)先速度。設(shè)備支持升級至 Phenom Pro/ProX，可擴(kuò)展至二次電子探測和能譜分析。憑借自動化硬件平臺、直覺式操作界面、防震防磁設(shè)計(jì)與極低的安裝要求，任何人都可在 30 分鐘內(nèi)上手使用。Phenom Pure 以高成像質(zhì)量、極致易用性和卓越穩(wěn)定性，成為科研、教學(xué)及工業(yè)質(zhì)控中最佳性價比的臺式掃描電鏡選擇。
為質(zhì)控與研發(fā)打造的自動化臺式掃描電鏡 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗艦級臺式掃描電鏡平臺，基于飛利浦—FEI—賽默飛近 80 年電鏡技術(shù)積淀打造。其穩(wěn)定可靠、易部署、自動化程度高，專為 生產(chǎn)質(zhì)控、高通量檢測與研發(fā)場景 而設(shè)計(jì)。 大倉室設(shè)計(jì)，可容納 36 個樣品，1 分鐘完成裝樣到出圖，自動化、AI 分析、能譜一體化，3000h CeB6 燈絲，平均 5 年更換一次，適用于金屬、電子陶瓷、半導(dǎo)體、粉末、濾膜、電池材料等多行業(yè)。
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