在納米尺度研究領(lǐng)域，瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振（CleanDrive）、直驅(qū)掃描（Direct Drive）和全電動(dòng)控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新，DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸，為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺(tái)。

FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡，適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能，并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究，或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件，具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力，尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性，是全球眾多科研人員的理想選擇。此外，它還能與外部硬件集成，擴(kuò)展研究功能。對于生命科學(xué)研究，F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù)，F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。

瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡，專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設(shè)計(jì)，將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合，成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強(qiáng)有力工具。

表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。

Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨(dú)特的 AFM 解決方案，可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭，采用針尖掃描的設(shè)計(jì)方式，無論樣品重量如何，都能實(shí)現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器，可快速精確地控制掃描過程，穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動(dòng)的影響。同時(shí)，該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動(dòng)軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制，滿足您的特定樣品測試需求。

Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。

高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量，晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的，對于先進(jìn)的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。

對于工程師來說，識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別，通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。