光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng)
發(fā)射掃描電子顯微鏡 ReguluS
場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300
掃描電子顯微鏡 AeroSurf 15
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000
Hirox桌上型掃描電鏡系列 Tabletop SEM具有強(qiáng)大的性能和友好易用的操作性。該系列具有緊湊的設(shè)計(jì),自動對焦、自動亮度和對比度調(diào)節(jié)等功能,提供給用戶高清晰、高倍率的掃描電鏡影像。 此外根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求,可以選配加載EDX系統(tǒng)、即能譜儀或許多其他周邊設(shè)備。 即避免了復(fù)雜的系統(tǒng)維護(hù)和測試時(shí)間,同時(shí)又節(jié)省了制做樣品的高昂成本,因此也更具性價(jià)比。SH系列 Tabletop SEM的數(shù)字化的圖像采集和儲存或傳輸使之無論在企業(yè)、科研或教學(xué)等應(yīng)用領(lǐng)域具有更高的效率。
桌上型掃描電子顯微鏡 SH-4000M
超越光學(xué)極限的高倍率 ■ 最高倍率達(dá)60,000X ■ 加速電壓5kV~30kV范圍可調(diào) ■ 多種真空模式-標(biāo)準(zhǔn)/荷電減輕 ■ 等待時(shí)間少于2分鐘 ■ 3軸控制載物臺-X方向、Y方向和Z方向 非導(dǎo)電性樣品無須涂層、快速簡便 ■ 任何人都能使用的自動調(diào)整功能 影像鮮明的掃描電鏡 ■ 高分辨率最高可達(dá)5百萬像素 |

選配件
離子濺射儀:
操作快捷簡便
裝載樣品尺寸:
最大50mm
靶材:Au金
外形/重量:
180Wx310Dx310H/15kg

冷凍載臺
與SEM預(yù)留的EDS接口兼容
對有水分樣品進(jìn)行水分蒸發(fā)
通過控制盤進(jìn)行溫度設(shè)置
設(shè)置溫度及溫度變化實(shí)時(shí)顯示
樣品高度可調(diào)
可進(jìn)行遠(yuǎn)程傳輸和遙控

EDS系統(tǒng): BRUKER EDS QUANTAX 100
SDD硅漂移藝術(shù)-無需液氮制冷
譜線分辨率優(yōu)于133eV(MnKa)
檢測范圍可以從硼B(yǎng)(5)到镅Am(95)
多點(diǎn)分析/先掃描/元素分布圖

BSE探測器
四通道固定型
合成物或形貌分析
優(yōu)異的原子序數(shù)分辨率0.1Z(Z=30時(shí))
可選探測器應(yīng)對普通低電壓UVH

應(yīng)用領(lǐng)域:
◇生命科學(xué) Life Science | ◇印制電路及表面貼裝 PCB/SMT | ◇能源產(chǎn)業(yè) Energy | ◇紡織 Textiles |
◇食品工業(yè) Food | ◇半導(dǎo)體 Semiconductor | ◇刑事科學(xué) Forensic | ◇生物學(xué) Biology |
◇化妝品 Cosmetics | ◇材料科學(xué) Materials Science | ◇**科研 Military | ◇環(huán)境科學(xué) Enviroment |
| ◇地質(zhì)勘探 Geo. Prospect | ◇五金礦產(chǎn) Mining Industry | ◇石油化工 Petro & Chemical | ◇文博考古 Archaeology |
◇健康用品 Healthcare | ◇汽車工業(yè) Automotive | ◇金相分析 Metallographic | ◇失效分析 Failure Analysis |


報(bào)價(jià):面議
已咨詢1396次電子顯微鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2597次場發(fā)射
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已咨詢1047次場發(fā)射掃描電鏡SEM4000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1227次鎢燈絲掃描電鏡SEM3200
報(bào)價(jià):面議
已咨詢441次高速掃描電子顯微鏡 HEM6000
報(bào)價(jià):面議
已咨詢213次原子力顯微鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢214次掃描電子顯微鏡及相關(guān)設(shè)備
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2595次
S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測器設(shè)計(jì)上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測;結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細(xì)節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外,為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能,還對用戶輔助工能進(jìn)行了強(qiáng)化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進(jìn)行獲得樣品表面像的時(shí)候,還可以對樣品的某個(gè)定點(diǎn)位置進(jìn)行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進(jìn)行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個(gè)等級),滿足眾多領(lǐng)域的測試需求。用戶可以根據(jù)實(shí)際用途(如微觀結(jié)構(gòu)控制:用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產(chǎn)品品質(zhì))選擇適合的產(chǎn)品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設(shè)計(jì),便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì),超大空間,多接口,升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件,光子晶體,低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。