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產(chǎn)品中心

儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心>測(cè)量計(jì)量儀器>表面測(cè)量儀器>輪廓儀 更新時(shí)間:2026-04-14 01:44:38

輪廓儀

(共127件相關(guān)產(chǎn)品信息)
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產(chǎn)品分類:
更多 輪廓儀 臺(tái)階儀 圓度儀/圓柱度儀 三維表面形貌儀 粗糙度儀 其它表面測(cè)量儀器
儀器分類:
不限 接觸式 非接觸式
產(chǎn)品產(chǎn)地:
不限 中國大陸 大洋洲 歐洲 亞洲 美洲
廠商性質(zhì):
不限 自營 代理 經(jīng)銷
銷售地區(qū):
不限 售全國 售本省 售本市
產(chǎn)品品牌:
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綜合
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    德國布魯克 非接觸光學(xué)輪廓儀ContourGT 3D

    德國布魯克 ContourGT 3D 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件,ZG技術(shù)白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,推出歷年來來zui先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。
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    KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀

    美國Filmetrics Profilm3D 美洲 美國
    優(yōu)尼康科技有限公司
    KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白光干涉原理,不損傷樣品。
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    ¥1800000

    西班牙Sensofar 3D表面光學(xué)輪廓儀S lynx 2

    西班牙Sensofar 歐洲 西班牙
    北京儀光科技有限公司
    西班牙Sensofar 3D表面光學(xué)輪廓儀S lynx 2是一款多功能、用途廣泛的3D光學(xué)輪廓儀,用于粗糙度、體積和臨界尺寸測(cè)量。
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    布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200

    布魯克 ContourX-200 亞洲 其它
    冠乾科技(上海)有限公司
    ContourX- 200光學(xué)輪廓儀完美融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供一流的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。 1. 超強(qiáng) LED 雙光源,白光和綠光 2. 垂直測(cè)量范圍: 0.1nm 至 10mm;為了保證測(cè)量精確性,全量程閉環(huán)掃描,可連續(xù)測(cè)量0.1nm 到 10mmZ 向起伏樣品,無需縫合拼接 3. 垂直方向的分辨率:≤0.1nm; 4. RMS 測(cè)量的重復(fù)性:0.01nm; 5. 臺(tái)階高度測(cè)量準(zhǔn)確性:≤0.75%; 6. 臺(tái)階高度測(cè)量重復(fù)性:≤0.1%; 7. 測(cè)量臺(tái):X-Y 行程 150mm×150mm,自動(dòng)控制;Z 方向最大行程 100mm,自動(dòng)控制; 測(cè)量臺(tái)傾斜俯仰(±6°); 8. 最大樣品測(cè)試高度:100mm; 9. 采樣點(diǎn)數(shù):≥1280*960; 10. 真彩色模塊,含彩色 CCD 攝像頭和彩色分析模塊,實(shí)現(xiàn)樣品真彩色三維形貌測(cè)量。 11. 橫向分辨率:≤0.5μm 12. 樣品反射率:<0.05%至 100%; 13. 具備自動(dòng)聚焦功能,自動(dòng)調(diào)光強(qiáng)功能 14. 具有無縫拼接功能,專利設(shè)計(jì)螺旋拼接,可以提高拼接速度,節(jié)省測(cè)試時(shí)間。 15. 自動(dòng)目鏡切換系統(tǒng),可選 1x,0.55x, 2x 目鏡(至少選擇一個(gè)鏡頭) 16. 5 孔自動(dòng)物鏡塔臺(tái)(選配) 17. 白光干涉物鏡 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x (至少選擇一個(gè)鏡頭) 18. 真彩色模塊信號(hào)采集系統(tǒng),分辨率 1280*960 19. 配備超光滑 Si-C 樣品和帶 8um 臺(tái)階樣品
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    探針式輪廓儀/臺(tái)階儀Tencor P7 /P17

    KLA Tencor P7 /P17 美洲 美國
    深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
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    探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)Alpha-Step D-600

    KLA Alpha-Step D-600 美洲 美國
    上海納嘉儀器有限公司
    Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測(cè)量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
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    NanoSystem NV-3200 非接觸式3D光學(xué)輪廓儀

    NV-3200
    杭州雷邁科技有限公司
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    KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀

    美國Filmetrics Profilm3D 美洲 美國
    優(yōu)尼康科技有限公司
    KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白光干涉原理,不損傷樣品。
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    探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)Alpha-Step D-600

    KLA Alpha-Step D-600 美洲 美國
    上海納嘉儀器有限公司
    Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測(cè)量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
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    德國布魯克 非接觸光學(xué)輪廓儀ContourGT 3D

    德國布魯克 ContourGT 3D 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件,ZG技術(shù)白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,推出歷年來來zui先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。
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    布魯克輪廓儀Dektak XTL

    德國布魯克 Dektak XTL 歐洲 德國
    上海爾迪儀器科技有限公司
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    光學(xué)式輪廓儀Optical Profiler-Zeta-300

    KLA Optical Profiler 美洲 美國
    上海納嘉儀器有限公司
    Zeta-300支持3D量測(cè)和成像的功能,并提供整合隔離工作臺(tái)和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
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    布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200

    布魯克 ContourX-200 亞洲 其它
    冠乾科技(上海)有限公司
    ContourX- 200光學(xué)輪廓儀完美融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供一流的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。 1. 超強(qiáng) LED 雙光源,白光和綠光 2. 垂直測(cè)量范圍: 0.1nm 至 10mm;為了保證測(cè)量精確性,全量程閉環(huán)掃描,可連續(xù)測(cè)量0.1nm 到 10mmZ 向起伏樣品,無需縫合拼接 3. 垂直方向的分辨率:≤0.1nm; 4. RMS 測(cè)量的重復(fù)性:0.01nm; 5. 臺(tái)階高度測(cè)量準(zhǔn)確性:≤0.75%; 6. 臺(tái)階高度測(cè)量重復(fù)性:≤0.1%; 7. 測(cè)量臺(tái):X-Y 行程 150mm×150mm,自動(dòng)控制;Z 方向最大行程 100mm,自動(dòng)控制; 測(cè)量臺(tái)傾斜俯仰(±6°); 8. 最大樣品測(cè)試高度:100mm; 9. 采樣點(diǎn)數(shù):≥1280*960; 10. 真彩色模塊,含彩色 CCD 攝像頭和彩色分析模塊,實(shí)現(xiàn)樣品真彩色三維形貌測(cè)量。 11. 橫向分辨率:≤0.5μm 12. 樣品反射率:<0.05%至 100%; 13. 具備自動(dòng)聚焦功能,自動(dòng)調(diào)光強(qiáng)功能 14. 具有無縫拼接功能,專利設(shè)計(jì)螺旋拼接,可以提高拼接速度,節(jié)省測(cè)試時(shí)間。 15. 自動(dòng)目鏡切換系統(tǒng),可選 1x,0.55x, 2x 目鏡(至少選擇一個(gè)鏡頭) 16. 5 孔自動(dòng)物鏡塔臺(tái)(選配) 17. 白光干涉物鏡 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x (至少選擇一個(gè)鏡頭) 18. 真彩色模塊信號(hào)采集系統(tǒng),分辨率 1280*960 19. 配備超光滑 Si-C 樣品和帶 8um 臺(tái)階樣品
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    布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200

    德國布魯克 ContourX-200 歐洲 德國
    上海爾迪儀器科技有限公司
    ·優(yōu)質(zhì)的測(cè)量與分析功能 ·先進(jìn)計(jì)量設(shè)備 ·ZG性能表面計(jì)量
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    布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500

    德國布魯克 ContourX-500 歐洲 德國
    上海爾迪儀器科技有限公司
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    德國布魯克 三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX-1000

    德國布魯克 NPFLEX-1000 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    落地式NPFLEX-1000白光干涉(WLI)測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來了前所未有的靈活性、測(cè)量能力和性能,從而理解和控制制造過程。該系統(tǒng)采用開放式龍門架設(shè)計(jì),具有300mm的樣品臺(tái)與目鏡間距,因此能夠在各種形狀和尺寸的樣品上輕松測(cè)量微觀及宏觀特征。全新的一鍵高級(jí)查找表面? 通過結(jié)合自動(dòng)對(duì)焦和自動(dòng)照明,消除了在每次測(cè)量之前手動(dòng)聚焦表面的需要,從而提升用戶體驗(yàn),并減少測(cè)量時(shí)間。結(jié)合自適應(yīng)USI測(cè)量模式和引導(dǎo)、簡化的VisionXpress ? 界面,NPFLEX-1000為汽車、醫(yī)療器械和增材制造等生產(chǎn)領(lǐng)域提供了毫不妥協(xié)的計(jì)量方法.
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    德國布魯克 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000

    德國布魯克 ContourX-1000 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    落地式ContourX-1000 白光干涉(WLI)系統(tǒng)集成了Bruker 在硬件和軟件上的Z新技術(shù), 可 用于全自動(dòng)三維表面紋理和粗糙度測(cè)量。全新的一鍵式高級(jí)尋找表面 (Advanced Find Surface ?)功能結(jié)合自動(dòng)聚焦和自動(dòng)照明功能,無需每次測(cè)量前手動(dòng)查找樣品表面,極大提升了用戶體驗(yàn)且縮短測(cè)量時(shí)間。結(jié)合自適應(yīng)測(cè)量模式 USI 和簡 潔的引導(dǎo)式 VisionXpress ?操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人員,甚至多用戶高負(fù)荷的生產(chǎn)設(shè)備下都可提供不打折扣的精確測(cè)量。
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    德國布魯克 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100

    德國布魯克 ContourX-100 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    ContourX-100光學(xué)輪廓儀以Z佳的價(jià)格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹立了新的標(biāo)桿。 該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計(jì),結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測(cè)量功能。滿足計(jì)量要求的臺(tái)式系統(tǒng)具有業(yè)界Z先進(jìn)的友好用戶界面,可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。
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    德國布魯克 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200

    德國布魯克 ContourX-200 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    ContourX-200光學(xué)輪廓儀完美融合了高級(jí)表征、可定 制選項(xiàng)和易用性,可提供一流的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的 非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D/3D高分辨率測(cè)量功能。
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    德國布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500

    德國布魯克 ContourX-500 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    ContourX-500光學(xué)輪廓儀是世界上Z全面的快速,非接觸式3D表面計(jì)量自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的自動(dòng)傾斜光學(xué)測(cè)頭,可以完全編程并自動(dòng)測(cè)試一定角度范圍內(nèi)的表面特征,并能Z大程度地減少跟蹤誤差。
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    德國布魯克 光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D

    德國布魯克 NPFLEX 3D 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    布魯克的NPFLEXTM 3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?;诎坠飧缮娴脑?,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量儀(CMM)和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。
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    德國布魯克 探針式表面輪廓儀DektakXT

    德國布魯克 DektakXT 歐洲 德國
    布魯克納米表面儀器部
    布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì),可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰,更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡易,檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。
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    探針式輪廓儀/臺(tái)階儀Tencor P7 /P17

    KLA Tencor P7 /P17 美洲 美國
    深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
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    探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)-P-17

    KLA P-17 Stylus Profiler 美洲 美國
    上海納嘉儀器有限公司
    P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。
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    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100

    德國布魯克 ContourX-100 歐洲 德國
    上海爾迪儀器科技有限公司
    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100 具備高性價(jià)比的 ContourX-100 光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹立了新基準(zhǔn)。 該系統(tǒng)占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術(shù),具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測(cè)量能力
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    探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)-P-7

    KLA P-7 Stylus Profiler 美洲 美國
    上海納嘉儀器有限公司
    P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。
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    ¥500000

    布魯克 ContourX-500 三維光學(xué)輪廓儀

    德國布魯克 Contour X-500 歐洲 德國
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    西班牙Sensofar 5軸全3D光學(xué)輪廓儀S neox Five Axis

    西班牙Sensofar S neox Five Axis 歐洲 西班牙
    北京儀光科技有限公司
    S neox Five Axis 3D光學(xué)輪廓儀結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和S neox 3D光學(xué)輪廓儀的先進(jìn)檢測(cè)和分析功能在指定的位置上實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)地3D表面測(cè)量,并結(jié)合在一起,完成全表面的3D立體測(cè)量。
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    ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀

    德國布魯克 ContourX-200 歐洲 德國
    深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
    ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
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    布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X

    德國布魯克 Contour X 歐洲 德國
    深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
    布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測(cè)量需要
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    輪廓儀

    法國TRIBOtechnic LKY 歐洲 法國
    科睿設(shè)備有限公司
    通過無支架導(dǎo)軌模塊來完成測(cè)量涂層或基底材料的磨耗速率
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    德Bruker光學(xué)輪廓儀ContourGT

    德國布魯克 ContourGT 歐洲 德國
    深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
    德Bruker光學(xué)輪廓儀ContoruGT-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)QC/QA及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀,ContourGT 系列產(chǎn)品中包含有旗靚級(jí)ContourGT-X, 進(jìn)階級(jí)ContourGT-1及入門等級(jí)的桌上型K0,每款機(jī)型可提供多種加工與制造業(yè)市場上各種應(yīng)用范圍(包括高亮度LED,太陽能,眼科,半導(dǎo)體及YL裝置等)。NPRLEX 為大尺寸工件精密加工提供非接觸準(zhǔn)確測(cè)量。

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光學(xué)式輪廓儀Optical Profiler-Zeta-300

Zeta-300支持3D量測(cè)和成像的功能,并提供整合隔離工作臺(tái)和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)-P-17

P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)-P-7

P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。

探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)Alpha-Step D-600

Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測(cè)量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。

KLA 三維光學(xué)輪廓儀Zeta-20

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探針式輪廓儀/臺(tái)階儀Tencor P7 /P17

PLS-F1000晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)

晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量,結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍(lán)寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;

PLS-F1000/F1002晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)

晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)PLS- F1000/ F1002 是一款專門測(cè)量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動(dòng)晶圓形貌檢測(cè)及分選機(jī)。

應(yīng)用方案

Thorlabs光束輪廓儀BC207UV 粗糙度輪廓儀一體機(jī)主要產(chǎn)品 光學(xué)輪廓儀可以測(cè)什么 3D光學(xué)輪廓儀的應(yīng)用 表面粗糙度輪廓儀的應(yīng)用領(lǐng)域 用輪廓儀測(cè)量表面粗糙度 布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-500特點(diǎn) 布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200特點(diǎn) 布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100特點(diǎn) Sensofar 大視野光學(xué)輪廓儀|條紋投影

行業(yè)資料

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