摘要：建立了膜去溶一ICPMS直接測(cè)定各種地質(zhì)樣品中微量 的分析方法詳細(xì)比較了采用冷卻霧室和膜去溶對(duì)降低氧化物和氫氧化物干擾的情況結(jié)果表明：采用膜去溶進(jìn)樣可以很好地解決測(cè)定地質(zhì)樣品時(shí)zrNbY的氧化物和氫氧化物對(duì)A暑的干擾再結(jié)合少量N，的引入還可以進(jìn)一步提高Ag的檢測(cè)靈敏度(4倍)和降低氧化物和氫氧化物的干擾(50％)在冷卻霧室(2)ICPMS條件下，zr的氧化物和氫氧化物產(chǎn)率通常在一0．5％ ；而采用膜去溶一ICP MS可以降低至約0．0005％ 所以，可以采用膜去溶．ICPMS直接測(cè)定各種地質(zhì)樣品中的Ag在給定的條件下，膜去溶一ICPMS對(duì)Ag的檢出限是0．0005 L結(jié)合密閉高溫高壓消解樣品的方法，測(cè)定了21種各種類型國(guó)際地質(zhì)標(biāo)樣，確證了本法的可行性 萊伯泰科Aridus II膜去溶霧化系統(tǒng)