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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
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- EVG光刻機(jī)
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儀企號
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友情鏈接
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FSM413紅外激光測厚儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FSM413
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FSM413紅外激光測厚儀主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備、電學(xué)測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備、非接觸式片電阻及漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析、...
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FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Ultra NIR N3
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
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FSM128 FSM413薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備價(jià)格：￥1- 品牌：美國FSM
- 型號：FSM128 FSM413
- 產(chǎn)地：美洲 美國
美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，總部位于圣何塞，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布全世界, 主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備: 三維輪廓...
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