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銀牌會(huì)員 第 8 年
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類(lèi)
- 品牌分類(lèi)
- EVG光刻機(jī)
- EVG鍵合機(jī)
- CMP晶圓減薄拋光
- 晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量
- EVG納米壓印機(jī)
- 膜厚儀
- 防震臺(tái)
- 晶圓厚度測(cè)量
- 應(yīng)力測(cè)量
- 3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
- 光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)（定心儀）
- 片電阻測(cè)量?jī)x
- 晶圓缺陷檢測(cè)
- 等離子去膠
- 橢偏儀
- 臺(tái)階儀
- 4D動(dòng)態(tài)激光干涉儀
- 光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
- 電容式位移傳感器
- 磁性材料檢測(cè)設(shè)備
- 全自動(dòng)測(cè)量機(jī)臺(tái)
- （ 日本）日本小坂
- （ 美國(guó)）美國(guó)Film Sense
- （ 珠海）寶豐堂
- （ 浦東新區(qū)）其它品牌
- （ 日本）列真株式會(huì)社
- （ 美國(guó)）美國(guó)德康
- （ 德國(guó)）德國(guó)Stefan Mayer
- （ 德國(guó)）Opto Alignment
- （ 希臘）希臘ThetaMetrisis
- （ 鎮(zhèn)江）鎮(zhèn)江超納
- （ 美國(guó)）美國(guó)MicroSense
- （ 美國(guó)）美國(guó)Herzan
- （ 美國(guó)）美國(guó)FSM
- （ 美國(guó)）美國(guó)Filmetrics
- （ 奧地利）EVG
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儀企號(hào)
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
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友情鏈接
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UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：其它品牌
- 型號(hào)：UltraINSP
- 產(chǎn)地：上海 浦東新區(qū)
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模塊；輪廓、量測(cè)和檢查模塊。
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UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：其它品牌
- 型號(hào)：UltraShape
- 產(chǎn)地：上海 浦東新區(qū)
系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測(cè)，包括TTV，Bow，Warp，TIR等參數(shù)，可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測(cè)，精度達(dá)國(guó)際水平，產(chǎn)能和經(jīng)濟(jì)效益遠(yuǎn)超國(guó)內(nèi)外產(chǎn)品。
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UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：其它品牌
- 型號(hào)：UltraFilm
- 產(chǎn)地：上海 浦東新區(qū)
系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國(guó)內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)的系統(tǒng)。
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